Микроскоп схематично: Микроскоп, схема — Энциклопедия по машиностроению XXL

Содержание

Оптическая система микроскопа – Статьи на сайте Четыре глаза


Полезная информация

Главная » Статьи и полезные материалы » Микроскопы » Статьи о микроскопах, микропрепаратах и исследованиях микромира » Оптическая схема микроскопа

В любом биологическом микроскопе можно выделить несколько главных элементов: оптическую систему, осветительную систему и место для размещения наблюдаемых образцов. Все вместе они создают тот оптический прибор, который позволяет нам изучать микромир.

Оптическая система микроскопа состоит из двух короткофокусных линз, помещенных в подвижный тубус. Линзы известны нам как окуляр и объектив, а тубус называют окулярной трубкой микроскопа. Они и помогают нам рассматривать образец на значительном увеличении. За формирование картинки отвечает объектив. Он – наиболее важная оптическая часть микроскопа, и требования качества к нему всегда выше. Это связано с тем, что окуляр, который увеличивает создаваемое объективом изображение, делает более заметными и все искажения, которые объектив привносит в картинку. Любопытно, что собственные аберрации окуляр не увеличивает. Поэтому и выходит, что в оптической схеме микроскопа главную роль играет все-таки объектив.

Чтобы получить увеличенное изображение образца, его нужно куда-то поместить. Для этого используется предметный столик. Он располагается прямо под объективом и позволяет жестко зафиксировать микропрепарат.

Однако для получения четкой картинки нужен еще один элемент – освещение. Когда микроскопы только появились, наблюдения проводили при естественном свете. В современном мире вы сможете выбрать более продвинутую систему освещения. Подсветка может быть расположена над или под предметным столиком или по обеим сторонам от него. Для освещения используются светодиодные или галогенные лампы. Иногда устанавливают и лампы накаливания. Подсветка может иметь регулировку яркости, работать от батареек или от сети. Более сложные микроскопы оснащаются конденсорами или диафрагмами, с помощью которых можно более точно направлять световой пучок от осветительной системы.

Выбирая микроскоп, важно уметь разбираться во всех нюансах его конструкции. Если вы сомневаетесь, что сможете самостоятельно сориентироваться в многообразии современных микроскопов, рекомендуем обратиться к нашим консультантам. А лучшим решением станет посещение одного из наших розничных магазинов, где вы сможете вживую посмотреть и даже испытать в деле приглянувшийся оптический прибор.

4glaza.ru
Январь 2018

Использование материала полностью для общедоступной публикации на носителях информации и любых форматов запрещено. Разрешено упоминание статьи с активной ссылкой на сайт www.4glaza.ru.

Производитель оставляет за собой право вносить любые изменения в стоимость, модельный ряд и технические характеристики или прекращать производство изделия без предварительного уведомления.


Рекомендуемые товары


Смотрите также

Другие обзоры и статьи о микроскопах, микропрепаратах и микромире:

  • Видео! Как выглядит крыса под микроскопом? Что можно увидеть в карманный микроскоп? (канал MAD SCIENCE, Youtube.com)
  • Видео! Микроскоп Levenhuk 870T: наблюдение лесной флоры и фауны (канал MAD SCIENCE, Youtube.com)
  • Видео! Микроскоп Levenhuk 870T: видеосравнение фильтрованной и нефильтрованной воды (канал MAD SCIENCE, Youtube.com)
  • Видео! Микроскоп Levenhuk 870T: жизнь в капле воды с болота (канал MAD SCIENCE, Youtube.com)
  • Видео! Микроскоп Levenhuk 870T: видео радиоактивной воды (канал MAD SCIENCE, Youtube.com)
  • Видео! Микроскоп Levenhuk 870T: видеообзор (канал MAD SCIENCE, Youtube.com)
  • Видео! Микроскоп Levenhuk 870T: видео соленой воды (канал MAD SCIENCE, Youtube.com)
  • Медицинские микроскопы Levenhuk MED: обзорная статья на сайте levenhuk.ru
  • Видео! Портативный микроскоп Bresser National Geographic 20–40x и другие детские приборы линейки: видеообзор (канал «Татьяна Михеева», Youtube.com)
  • Книги знаний издательства Levenhuk Press: подробный обзор на сайте levenhuk.ru
  • Видео! Книга знаний в 2 томах. «Космос. Микромир»: видеопрезентация (канал LevenhukOnline, Youtube.ru)
  • Видео! Видео бактерий под микроскопом Levenhuk Rainbow 2L PLUS (канал «Микромир под микроскопом», Youtube.ru)
  • Обзор микроскопа Levenhuk Rainbow 50L PLUS на сайте levenhuk.ru
  • Видео! Подробный обзор серии детских микроскопов Levenhuk LabZZ M101 (канал Kent Channel TV, Youtube.ru)
  • Обзор набора оптической техники Levenhuk LabZZ MTВ3 (микроскоп, телескоп и бинокль) на сайте levenhuk.ru
  • Видео! Микроскоп Levenhuk DTX 90: распаковка и видеообзор цифрового микроскопа (канал Kent Channel TV, Youtube.ru)
  • Видео! Видеопрезентация увлекательной и красочной книги для детей «Невидимый мир» (канал LevenhukOnline, Youtube.ru)
  • Видео! Большой обзор биологического микроскопа Levenhuk 3S NG (канал Kent Channel TV, Youtube.ru)
  • Микроскопы Levenhuk Rainbow 2L PLUS
  • Видео! Микроскопы Levenhuk Rainbow и LabZZ (канал LevenhukOnline, Youtube.ru)
  • Микроскоп Levenhuk Rainbow 2L PLUS Lime\Лайм. Изучаем микромир
  • Выбираем лучший детский микроскоп
  • Видео! Микроскопы Levenhuk Rainbow 2L: видеообзор серии микроскопов (канал LevenhukOnline, Youtube.ru)
  • Видео! Микроскопы Levenhuk Rainbow 2L PLUS: видеообзор серии микроскопов (канал LevenhukOnline, Youtube.ru)
  • Видео! Микроскопы Levenhuk Rainbow 50L: видеообзор серии микроскопов (канал LevenhukOnline, Youtube.ru)
  • Видео! Микроскопы Levenhuk Rainbow 50L PLUS: видеообзор серии микроскопов (канал LevenhukOnline, Youtube.ru)
  • Видео! Микроскоп Levenhuk Rainbow D2L: видеообзор цифрового микроскопа (канал LevenhukOnline, Youtube.ru)
  • Видео! Микроскоп Levenhuk Rainbow D50L PLUS: видеообзор цифрового микроскопа (канал LevenhukOnline, Youtube.ru)
  • Обзор биологического микроскопа Levenhuk Rainbow 50L
  • Видео! Видеообзор школьных микроскопов Levenhuk Rainbow 2L и 2L PLUS: лучший подарок ребенку (канал KentChannelTV, Youtube.ru)
  • Видео! Как выбрать микроскоп: видеообзор для любителей микромира (канал LevenhukOnline, Youtube.ru)
  • Галерея фотографий! Наборы готовых микропрепаратов Levenhuk
  • Микроскопия: метод темного поля
  • Видео! «Один день инфузории-туфельки»: видео снято при помощи микроскопа Levenhuk 2L NG и цифровой камеры Levenhuk (канал LevenhukOnline, Youtube.ru)
  • Видео! Обзор микроскопа Levenhuk Rainbow 2L NG Azure на телеканале «Карусель» (канал LevenhukOnline, Youtube.ru)
  • Обзор микроскопа Levenhuk Фиксики Файер
  • Совместимость микроскопов Levenhuk с цифровыми камерами Levenhuk
  • Как работает микроскоп
  • Как настроить микроскоп
  • Как ухаживать за микроскопом
  • Типы микроскопов
  • Техника приготовления микропрепаратов
  • Галерея фотографий! Что можно увидеть в микроскопы Levenhuk Rainbow 50L, 50L PLUS, D50L PLUS
  • Сетка или шкала. Микроскоп и возможность проведения точных измерений
  • Обычные предметы под объективом микроскопа
  • Насекомые под микроскопом: фото с названиями
  • Инфузории под микроскопом
  • Изобретение микроскопа
  • Какой микроскоп лучше: подробная инструкция по выбору оптического прибора
  • Как выглядят лейкоциты под микроскопом
  • Что такое лазерный сканирующий микроскоп?
  • Микроскоп люминесцентный: цена высока, но оправданна
  • Микроскоп для пайки микросхем
  • Иммерсионная система микроскопа
  • Измерительный микроскоп
  • Микроскопы от самых больших профессиональных моделей до простых детских
  • Микроскоп профессиональный цифровой
  • Силовой микроскоп: для серьезных исследований и развлечений
  • Лечение зубов под микроскопом
  • Кровь человека под микроскопом
  • Галогенные лампы для микроскопов
  • Французские опыты – микроскопы и развивающие наборы от Bondibon
  • Наборы препаратов для микроскопа
  • Юстировка микроскопа
  • Микроскоп для ремонта электроники
  • Операционный микроскоп: цена, возможности, сферы применения
  • «Шкаловой микроскоп» – какой оптический прибор так называют?
  • Бородавка под микроскопом
  • Вирусы под микроскопом
  • Принцип работы темнопольного микроскопа
  • Покровные стекла для микроскопа – купить или нет?
  • Увеличение оптического микроскопа
  • Оптическая схема микроскопа
  • Схема просвечивающего электронного микроскопа
  • Устройство оптического микроскопа у теодолита
  • Грибок под микроскопом: фото и особенности исследования
  • Зачем нужна цифровая камера для микроскопа?
  • Предметный столик микроскопа – что это и зачем он нужен?
  • Микроскопы проходящего света
  • Органоиды, обнаруженные с помощью электронного микроскопа
  • Паук под микроскопом: фото и особенности изучения
  • Из чего состоит микроскоп?
  • Как выглядят волосы под микроскопом?
  • Глаз под микроскопом: фото насекомых
  • Микроскоп из веб-камеры своими руками
  • Микроскопы светлого поля
  • Механическая система микроскопа
  • Объектив и окуляр микроскопа
  • USB-микроскоп для компьютера
  • Универсальный микроскоп – существует ли такой?
  • Песок под микроскопом
  • Муравей через микроскоп: изучаем и фотографируем
  • Растительная клетка под световым микроскопом
  • Цифровой промышленный микроскоп
  • ДНК человека под микроскопом
  • Как сделать микроскоп в домашних условиях
  • Первые микроскопы
  • Микроскоп стерео: купить или нет?
  • Как выглядит раковая клетка под микроскопом?
  • Металлографический микроскоп: купить или не стоит?
  • Флуоресцентный микроскоп: цена и особенности
  • Что такое «ионный микроскоп»?
  • Грязь под микроскопом
  • Как выглядит клещ под микроскопом
  • Как выглядит червяк под микроскопом
  • Как выглядят дрожжи под микроскопом
  • Что можно увидеть в микроскоп?
  • Зачем нужны исследовательские микроскопы?
  • Бактерии под микроскопом: фото и особенности наблюдения
  • На что влияет апертура объектива микроскопа?
  • Аскариды под микроскопом: фото и особенности изучения
  • Как использовать микропрепараты для микроскопа
  • Изучаем ГОСТ: микроскопы, соответствующие стандартам
  • Микроскоп инструментальный – купить или нет?
  • Где купить отсчетный микроскоп и зачем он нужен?
  • Атом под электронным микроскопом
  • Как кусает комар под микроскопом
  • Как выглядит муха под микроскопом
  • Амеба: фото под микроскопом
  • Подкованная блоха под микроскопом
  • Вша под микроскопом
  • Плесень хлеба под микроскопом
  • Зубы под микроскопом: фото и особенности наблюдения
  • Снежинка под микроскопом
  • Бабочка под микроскопом: фото и особенности наблюдений
  • Самый мощный микроскоп – как выбрать правильно?
  • Рот пиявки под микроскопом
  • Мошка под микроскопом: челюсти и строение тела
  • Микробы на руках под микроскопом – как увидеть?
  • Вода под микроскопом
  • Как выглядит глист под микроскопом
  • Клетка под световым микроскопом
  • Клетка лука под микроскопом
  • Мозги под микроскопом
  • Кожа человека под микроскопом
  • Кристаллы под микроскопом
  • Основное преимущество световой микроскопии перед электронной
  • Конфокальная флуоресцентная микроскопия
  • Зондовый микроскоп
  • Принцип работы сканирующего зондового микроскопа
  • Почему трудно изготовить рентгеновский микроскоп?
  • Макровинт и микровинт микроскопа – что это такое?
  • Что такое тубус в микроскопе?
  • Главная плоскость поляризатора
  • На что влияет угол между главными плоскостями поляризатора и анализатора?
  • Назначение поляризатора и анализатора
  • Метод изучения – микроскопия на практике
  • Микроскопия осадка мочи: расшифровка
  • Анализ «Микроскопия мазка»
  • Сканирующая электронная микроскопия
  • Методы световой микроскопии
  • Оптическая микроскопия (световая)
  • Световая, люминесцентная, электронная микроскопия – разные методы исследований
  • Темнопольная микроскопия
  • Фазово-контрастная микроскопия
  • Поляризаторы естественного света
  • Шотландский физик, придумавший поляризатор
  • Механизм фокусировки в микроскопе
  • Что такое полевая диафрагма?
  • Микроскоп Микромед: инструкция по эксплуатации
  • Микроскоп Микмед: инструкция по эксплуатации
  • Где найти инструкцию микроскопа «ЛОМО»?
  • Микроскопы Micros: руководство пользователя
  • Какую функцию выполняют зажимы на микроскопе
  • Рабочее расстояние объектива микроскопа
  • Микропрепарат для микроскопа своими руками
  • Метод висячей капли
  • Метод раздавленной капли
  • Тихоходка под микроскопом
  • Аппарат Гольджи под микроскопом
  • Чем занять детей дома?
  • Чем заняться на карантине дома?
  • Чем заняться школьникам на карантине?
  • Выбираем микроскоп: отзывы имеют значение?
  • Микроскоп для школьника: какой выбрать?
  • Немного об оптовой закупке микроскопов и иной оптической техники
  • Во сколько увеличивает лупа?
  • Где купить лампу-лупу – косметологическую модель с подсветкой?
  • Какую купить лампу-лупу для маникюра?
  • Можно ли купить лампу-лупу для наращивания ресниц в интернет-магазине?
  • Лампа-лупа косметологическая на штативе: купить домой или нет?
  • Лупа бинокулярная с принадлежностями
  • Как выглядит лупа для нумизмата?
  • Лупа-лампа – лупа для рукоделия с подсветкой
  • «Лупа на стойке» – что это за оптический прибор?
  • Лупа – проектор для увеличенного изображения
  • Делаем лупу своими руками
  • Основные функции лупы
  • Какую лупу выбрать: советы и рекомендации
  • Лупа бинокулярная – цена возможностей
  • Лупа канцелярская: выбираем оптическую технику для офиса
  • Как выглядит коронавирус под микроскопом?
  • Как называется главная часть микроскопа?
  • Где купить блоки питания для микроскопа?
  • Строение объектива микроскопа
  • Как выглядят продукты под микроскопом
  • Что покажет музей микроминиатюр
  • Особенности и применение методов окрашивания клеток

Строение микроскопа — схема устройства с обозначениями и подписями частей

Автор Беликова Ирина На чтение 6 мин Просмотров 60

Оптические приборы, предназначенные для увеличения изображений предметов, которые не видны невооруженным глазом, называются оптическими (световыми) микроскопами. Сейчас невозможно представить работу ученых и исследователей в познании окружающего мира без этого устройства. По своим характеристикам и строению микроскопы подразделяются на 2 основных типа: биологические (лабораторные, медицинские) и стереоскопические.

История создания

До сих пор нет достоверных сведений о появлении первого микроскопа. В начале XVI века первым человеком, который предложил объединить 2 линзы для увеличения изучаемых объектов, был известный врач из Италии Д. Фракасторо. По другим данным, первый оптический прибор изобрели в Голландии отец и сын Янсены.

Известно это стало после заявления, сделанного в середине XVII века младшим Янсеном. Существует версия, что первую конструкцию с выпуклой и вогнутой линзами создал знаменитый Галилео Галилей в начале XVII века. Спустя 10 лет К. Дреббель собрал устройство с двумя выпуклыми линзами, в качестве которых он использовал 2 лупы.

Через несколько лет голландец К. Гюйгенс, создавший окуляр для телескопа, придумал и собрал двухлинзовую систему, которая регулировалась, не разлагая света на составные цвета. Это изобретение стало настоящим прорывом в истории создания оптической техники, а окуляры Гюйгенса применяются и по сей день.

Большую роль в разработках оптических приборов сыграл известный основоположник научной микроскопии Левенгук. Он собирал небольшие устройства с одной мощной линзой. Хотя простые конструкции были очень неудобны, но они давали возможность детальней изучать изображения объектов, чем составные приборы.

Виды микроскопов

За всю историю развития микроскопной техники было изобретено множество приборов. Все они отличались устройством и принципом действия. Основные виды микроскопов:

  • оптические;
  • электронные;
  • сканирующие зондовые;
  • рентгеновские.

Оптические и электронные

Самым простым и недорогим устройством считается оптический прибор. По своим техническим параметрам он позволяет увеличивать изображение объекта в 2 тыс. раз. Благодаря такому высокому показателю, с помощью оптического микроскопа можно исследовать:

  • структуру клеток;
  • поверхность ткани;
  • дефекты на искусственных объектах и т. д.

Приборы с таким увеличением выполнены более качественно, поэтому стоят довольно дорого. Большинство устройств обладают простой конструкцией и небольшим увеличением. Применяются они в основном для учебных целей при выполнении лабораторных работ по биологии. Обычно приборы имеют несколько подвижных объективов с разными показателями увеличения, которые можно менять, в зависимости от выполняемой работы.

Более современным прибором считается электронный микроскоп, который может увеличивать изображение предмета в 20 тыс. раз. От оптического устройства он отличается тем, что вместо луча света используется пучок электронов. Специальные магнитные линзы преобразовывают в изображение перемещение отрицательно заряженных частиц, а направленность пучка регулируется изменением магнитного поля.

Использование прибора в комплексе с компьютером позволяет значительно увеличить изображение и одновременно сделать снимок объекта. Недостатком таких устройств считается высокая стоимость и их эксплуатация только в лабораторных условиях, так как молекулы воздуха воздействуют на электроны, нарушая четкость изображения. Кроме того, чтобы на функционирование микроскопа не влияли внешние магнитные поля, лаборатории размещают в подземных бункерах с толстыми стенами.

Зондовые и рентгеновские

Сканирующие устройства позволяют получить нужное изображение с помощью специального зонда, который выполняет роль объектива и проводит исследование объекта. В итоге получается трехмерное изображение с точными характеристиками исследуемого предмета. Эта новая техника обладает довольно высоким разрешением, а зонд представляет собой сложный механизм, оснащенный чувствительными сенсорами, которые реагируют на перемещение электронов.

Зачастую такие конструкции используются для сканирования объектов со сложным рельефом. Сканерами исследуются внутренние пространства труб и мелких тоннелей. В результате исследования полученные первоначальные показатели обрабатываются математическим методом с помощью специальной компьютерной программы.

Для исследования предметов, размеры которых соизмеримы с длиной электромагнитных волн от 10 до 0,001 нм, применяются рентгеновские микроскопы. По своим характеристикам и эффективности работы эти приборы находятся между оптическими и электронными устройствами. Рентгеновские волны могут проникать сквозь поверхность объекта, поэтому существует возможность, кроме структуры предмета, узнать его химический состав.

Строение приборов

Все микроскопы делятся по классам сложности, и всего их существует 6. К первым относятся простые конструкции, а к последним — самые сложные. Устройство микроскопа зависит от его типа и назначения. Чтобы ознакомиться с основными частями оптического устройства, достаточно узнать строение простейшего лабораторного прибора.

Рисунок (раскраска) карандашом — строение микроскопа с подписями. Обозначения узлов схемы:

  • Окуляр.
  • Тубус.
  • Штатив.
  • Винт грубой настройки фокуса.
  • Винт тонкой регулировки.
  • Основание.
  • Насадка.
  • Объективы.
  • Зажимы.
  • Предметный столик.
  • Конденсор с диафрагмой.
  • Осветитель.
  • На старых моделях установлены зеркала, которые выполняют функцию отражателя света, а вместо зажимов применяется стекло. Основной частью микроскопа являются объектив и окуляр, кроме того, это главные детали оптической системы. С помощью этого узла происходит формирование изображения объекта. Чтобы изменить кратность, в профессиональных приборах подбираются различные комбинации окуляров и объективов.

    Для определения увеличения микроскопа следует умножить соответствующий показатель окуляра на значение объектива. К механической части прибора относятся: тубус, штатив, столик, система фокусировки, револьверная головка. Фокусировка выполняется двумя винтами (грубой и тонкой настройки), чтобы можно было быстро отрегулировать резкость изображения предмета.

    При этом на некоторых конструкциях регулировка осуществляется перемещением столика, а на других — тубуса. На профессиональных микроскопах обычно устанавливают съемные объективы, которые крепятся резьбовым соединением. Важную роль в оптическом приборе играет осветительная система, в которую входят: источник света, конденсор, диафрагма.

    Конденсор устроен из линз или зеркал, предназначен для сбора лучей света и направление их на изучаемый объект. Он может состоять из одной, двух или трех линз. Пользователь, поднимая или опуская устройство, конденсирует или рассеивает свет, падающий на предмет. Яркость плавно регулируется с помощью диафрагмы, которая обычно бывает ирисовой. Источник света может быть как встроенным, так и внешним, а сложные конструкции обладают еще несколькими подсветками.

    Особенности работы с устройством

    Для эффективного изучения объектов следует соблюдать ряд правил при работе с микроскопом. Придерживаясь их, пользователь более эффективно проведет исследование предмета:

  • Перед началом работы следует подготовить себе место за столом, поставив удобный стул.
  • Все действия необходимо выполнять только сидя.
  • Прибор надо протереть от пыли и пятен мягкой салфеткой.
  • Заняв место за столом, установить микроскоп немного левее себя.
  • Работа начинается с небольшого увеличения.
  • Затем устанавливается уровень освещения. Для этого следует включить источник света и, глядя в окуляр одним глазом, установить нужную яркость. Если микроскоп с зеркалом, его направляют вогнутой стороной на окно, чтобы отражение света попадало на предметный столик.
  • Когда прибор будет настроен, на столик крепится зажимами исследуемый объект. Далее, винтом грубой регулировки тубус устанавливается так, чтобы расстояние между линзой и предметом было 4—5 мм.
  • Проверив местоположение объекта, винтом тонкой регулировки устанавливается окончательная резкость.
  • Для детального изучения предмета, повернув револьверную головку, следует установить объектив, увеличивающий в 40 раз. Затем опять микрометренным винтом настроить правильный фокус. Причем регулировка осуществляется таким образом, чтобы риска на винте постоянно находилась между двумя черточками на коробке механизма. Если это правило нарушить, винт просто перестанет работать.
  • Закончив работу с большим увеличением, следует опять вернуться на малое значение, поднять объектив, убрать объект со стола, протереть все детали прибора, поставить его в шкаф и накрыть полиэтиленовой пленкой.

    Стереоскопический микроскоп МБС-1 — SCOPICA

    Общий вид микроскопа МБС-1 показан на рис. 2. Микроскоп состоит из пяти основных частей:

    • столика;
    • штатива;
    • оптической головки с механизмом грубой подачи:
    • окулярной насадки;
    • подлокотников.

    Рис. 2. Общий вид микроскопа;
    2—отражатель; 11—рукоятка; 12—корпус столика; 13—винт зажимной; 14—планка; 15—пластина; 16—основание; 17—прижимной хомутик; 18—рукоятка? 19—винт; 20—стержень; 21—корпус призмы; 22—стопорный винт; 23—оптическая; головка микроскопа; 24—рукоятка; 25—окулярная трубка; 26—осветитель с кол» лектором; 27—поворотный кронштейн; 28— оправа объектива; 29 — подшипник; 30 — блок питания.

    Столик

    Столик микроскопа МБС-1 состоит из круглого корпуса 12, внутри которого вмонтирован поворотный отражатель 2 и основание 16.

    Поворотный отражатель имеет с одной стороны плоское зеркало, а с другой—-матовое стекло. Поворот отражателя производится вращением рукоятки 11. Для работы с микроскопом при естественном освещении в передней части корпуса столика предусмотрен вырез, через который свободно проходит дневной свет, а при искусственном освещении с задней стороны корпуса столика имеется резьбовое отверстие для установки осветителя. Рекомендуется при работе с естественным освещением пользоваться плоским зеркалом, а при искусственном (электрическом) освещении — матовой стороной отражателя.

    Штатив

    Штатив микроскопа МБС-1 состоит из круглого основания 16 с ввернутым в него стержнем 20.

    Основание имеет круглое окно, в расточку которого устанавливается либо стеклянная круглая пластина (при работе в проходящем свете), либо круглая металлическая пластина (при работе в отраженном свете).

    Снизу к основанию привернуты два сухарика, при помощи которых основание штатива закрепляется зажимным винтом 13 в корпусе столика микроскопа.

    На наружной поверхности основания предусмотрены два отверстия для установки прижимов и три отверстия для установки препаратоводителя СТ-12, который в комплект микроскопа не входит и приобретается отдельно.

    На хромированной части стержня 20 насажен прижимной хомутик 17 со стопорным винтом, который предохраняет головку микроскопа от сползания по стержню 20.

    Оптическая головка с механизмом грубой подачи

    Оптическая головка 23 — основная часть прибора, в которую вмонтированы наиболее ответственные оптические узлы.

    Снизу корпуса головки 23 (на резьбу) ввернута цилиндрическая оправа 28 с объективом 6 (рис. 1). На этой оправе установлен поворотный кронштейн 27.

    Далее в корпусе помещен барабан с установленными в нем галилеевыми системами. Ось барабана выведена наружу корпуса и заканчивается рукоятками 24. Как было уже указано выше, в разделе «Оптическая система», для получения разных вариантов увеличений галилеевы системы должны переключаться, что и достигается вращением рукояток 24, на которых нанесены цифры «7», «4», «2», «1» и «0,6», соответствующие увеличениям. На оси барабана, кроме рукояток 24, укреплены подшипники 29, на которых нанесен индекс, указывающий интересуемое увеличение. Каждое из(шести положений барабана четко фиксируется специальным пружинным фиксатором.

    Верхняя часть корпуса заканчивается гнездом для установки окулярной насадки, зажимаемой стопорным винтом 22.

    К задней стенке корпуса на четырех винтах прикреплен кронштейн с механизмом передвижения оптической головки. Механизм передвижения представляет собой обычный реечный механизм.

    Подъем и опускание корпуса оптической головки осуществляется вращением рукояток 18.

    Кроме того, вся оптическая головка может перемещаться по стержню 20 и закрепляться на нем в любом положении винтом 19.

    Окулярная насадка

    Окулярная насадка состоит из направляющей, представляющей собой прямоугольную деталь со скошенными гранями и двумя отверстиями, в которые установлены левая и правая оправы объектива с укрепленными на них призмами 10 в оправах (рис. 1). Обе оправы объектива с установленными на них призмами закрыты сферическими корпусами 21, на которых закреплены окулярные трубки 25. На хвостовиках оправ объективов, снизу, расположены однозубая и двузубая шестерни, плотно сцепленные между собой. Таким образом, наличие этих шестерен обеспечивает при вращении одной из окулярных трубок принудительное вращение другой трубки.

    Расстояние между осями окулярных трубок может меняться от 56 мм до 72 мм.

    Во внутренних двух отверстиях хвостовиков оправ установлены два объектива 9 (рис. 1) с F = 160 мм.

    Подлокотники

    Так как с микроскопом МБС-1 приходится вести длительные наблюдения, связанные с препарировальными работами, то, естественно, происходит довольно быстрое утомление рук исследователя. Для обеспечения удобного положения рук исследователя в комплекте принадлежностей микроскопа предусмотрены два подлокотника, конструкция которых показана на рис. 2. Подлокотник состоит из планки 14 и пластмассовой пластины 15. Для того, чтобы подлокотник установить в корпус стола, необходимо снять основание 16 и планку со штифтом 14 поместить в соответствующий паз с отверстием. Затем основание зекрепляется зажимным винтом 13 в корпусе столика микроскопа.

    Схема электронного микроскопа — Справочник химика 21


        Основное отличие электронного микроскопа от оптического — использование потока электронов вместо лучей света, а вместо стеклянных линз — магнитных или электрических. На рис. 15 приведена упрощенная схема электронного микроскопа просвечивающего типа с магнитными линзами. [c.45]     Электронные микроскопы по электронно-оптическим системам разделяются на электростатические и электромагнитные. Принципиальная оптическая схема электронных микроскопов аналогична схемам световых микроскопов с той лишь разницей, что оптические-элементы последних заменены электрическими элементами. Источником электронов является электронная пушка, состоящая из като- [c.319]

        Принципиальная оптическая схема электронного микроскопа представлена на рис. 20.1. Устройство для получения пучков быстрых электронов (электронная пушка) [c.436]

        Оптическая схема электронного микроскопа просвечивающего типа аналогична оптической схеме светового микроскопа (рис. 7-6). [c.222]

        Схема электронного микроскопа с магнитной фокусировкой представлена параллельно со схемой оптического микроскопа на рис. 69, а схема электростатического электронного микроскопа— на рис. 70. [c.201]


        Как видно из схемы электронного микроскопа (рис. 92), пучок электронов из источника К (катода, являющегося накаленной вольфрамовой нитью) проходит через отверстие в аноде (диафрагма Л), попадает в магнитное по (е 5 (играющее роль конденсатора) и конденсируется им. Отсюда пучок электронов направляется на исследуемый объект, менее плотные части которого пропускают, а более плотные поглощают либо рассеивают их. [c.251]

        Принципиальная оптическая схема электронного микроскопа (рис. 118) отличается от схемы обычного светового микроскопа тем, что все световые оптические элементы заменены соответству-ЮШ.ИМЙ электрическими, т. е. источник света заменяется источником электронов, а стеклянные линзы — электромагнитными линзами. [c.369]

        Принципиальная оптическая схема электронного микроскопа представлена на рис. 146. На рис. 147 дан схематический разрез электронного микроскопа типа ЭМ-5 расположение основных оптических элементов этого микроскопа (позиции 1—12) соответствует схеме рис. 146. [c.258]     Оптическая схема электронных микроскопов….. [c.6]

        Основу действия микроскопа составляет явление эмиссии электронов с холодного металлического катода. На рис. 2.6 показана схема электронного микроскопа, включающая катод в виде очень тонкого острия с радиусом кривизны г 50 Ч- 300 нм и анод в виде экрана, на котором возникает изображение атомной поверхности острия. [c.47]

        Рассмотрим схему электронного микроскопа (рис. 24). I [c.50]

        Такова упрощенная схема электронного микроскопа. По сравнению со световым в нем источник света заменен потоком электронов, движением которых управляют электрические и магнитные линзы, а изображение можно видеть только благодаря флуоресцирующему экрану. [c.51]

    Рис. 2. Схема электронного микроскопа А — объект
        Оптическая схема электронного микроскопа близка к схеме обычного светового. Катод, представляющий собой вольфрамовую проволоку, при накаливании испускает электроны. В результате разности потенциалов между катодом и анодом, равной нескольким десяткам киловольт, электроны со значительной скоростью движутся к аноду и проходят через отверстие б магнитную линзу. Линза фокусирует пучок электронов в плоскости объекта. Электроны, прошедшие сквозь объект, попадают во вторую магнитную линзу, которая создает в плоскости увеличенное изображение объекта. Чтобы сделать это электронное изображение видимым, в данной плоскости устанавливают флюоресцирующий экран. Получаемое видимое изображение объекта называют промеиЧасть электронов, несущих определенную часть общего изображения, проходит через отверстие в центре экрана и при помощи третьей магнитной линзы фокусируется в увеличенном виде в плоскости. В плоскости конечного изображения также имеется флюоресцирующий экран, превращающий электронное изображение в световое. Под флюоресцирующим экраном помещается кассета с обычной фотографической пластинкой, которую можно заэкспонировать. [c.131]

        Как видно из рис. VI. 16 и в, оптическая схема электронного микроскопа просвечивающего типа в основных чертах напоминает оптическую схему обычного светового микроскоца (рис. VI. 1а) с тем отличием, что в электронном микроскопе источник света заменен источником электронов, а стеклянные линзы — электромагнитными или электростатическими. Электронные лучи создаются и формируются специальной электронно-оптической системой, которая называется электронной пушкой. Нагретая до высокой температуры вольфрамовая пить 1 (рис. VI.16 и й) эмитирует электроны, которые, попадая в ускоряющее поле электронной пушки, образуют пучок. В центре анода имеется небольшое отверстие, через которое пролетают электроны, используемые в дальнейшем для образования изображения. Далее электронный пучок попадает в конденсорную линзу 2, которая фокусирует его на исследуемый объект 3. Пройдя через объект, электронные лучи попадают в поле объективной линзы 4, которая создает промежуточное изображение 5, а затем в проекционную линзу 6, направляющую электронные лучи на флюоресцирующий экран и образующую конечное изображение 7. Флюоресцирующий экран покрыт веществом, способным светиться под действием ударов электронов (сульфид цинка, сульфид кадмия). Благодаря этому электронное изображение превращается в световое и становится видимым. Электронное изображение может быть зафиксировано на фотопластинке. [c.170]


        Электронные микроскопы по электронно-оптическим системам разделяются на электростатические и электромагнитные. Принципиальная оптическая схема электронных микроскопов аналогична схемам световых микроскопов с той лишь разницей, что оптические элемены последних заменены электрическими эле- ментами. Источником электронов является электронная пушка, состояшая из катода, управляюшего электрода и анода. Электронная пушка создает пучок быстрых электронов, который с помощью конденсорной линзы формируется и направляется через конденсорную диафрагму D на исследуемый объект. Проходя сквозь объект, пучок попадает в объективную линзу, которая со-, здает первое увеличение, затем через опертурную диафрагму и проекционные линзы на экран (покрытый специальным светосоставом), который под действием электронов начинает светиться и образует изображение. Получение контрастного изображения в электронном микроскопе обусловлено тем, что различные участки образца по-разному рассеивают проходящие через них электроны. Для беспрепятственного прохождения электронов в микроскопе создается вакуум порядка Q mm рт. ст. [c.319]

    Простой рисунок микроскопа (63 фото) » Рисунки для срисовки и не только

    Микроскоп раскраска


    Микроскоп карандашом


    Микроскоп раскраска


    Разукрашка световой микроскоп


    Микроскоп для распечатки


    Разукрашка световой микроскоп


    Микроскоп нарисовать


    Зарисовка микроскопа


    Поэтапное рисование микроскопа


    Микроскоп для рисования


    Микроскоп раскраска


    Микроскоп раскраска


    Микроскоп для рисования


    Микроскоп черно белый


    Разукрашка световой микроскоп


    Микроскоп трафарет


    Макет микроскопа


    Микроскоп раскраска


    Световой микроскоп нарисовать микроскоп поэтапно


    Микроскоп раскраска для детей


    Разукрашка световой микроскоп


    Зарисовка микроскопа


    Разукрашка световой микроскоп


    Разукрашка световой микроскоп


    Микроскоп для рисования


    Зарисовать микроскоп


    Микроскоп нарисовать


    Микроскоп для распечатки


    Микроскоп для рисования


    Микроскоп трафарет


    Зарисовать микроскоп


    Разукрашка световой микроскоп


    Микроскоп 2d рисунок


    Картинки микроскопа карандашом


    Зарисовка микроскопа


    Микроскоп для распечатки


    Микроскоп контур


    Микроскоп части микроскопа биология 5 класс


    Зарисовка микроскопа


    Регулировочный винт микроскопа обозначение


    Микроскоп по клеточкам


    Микроскоп раскраска


    Микроскоп Биолам схематично


    Зарисовать микроскоп


    Микроскоп схематично


    Строение увеличительных приборов лупа и микроскоп


    Разукрашка световой микроскоп


    Микроскоп схематически


    Световой микроскоп Биолам строение


    Разукрашка световой микроскоп


    Микроскоп трафарет


    Микроскоп вектор


    Микроскоп раскраска


    Микроскоп Кулибина


    Зарисовать микроскоп


    Микроскоп раскраска


    Схема строения микроскопа


    Микроскоп рисунок


    Микроскоп карандашом


    Микроскоп раскраска


    Зарисовать световой микроскоп


    Микроскоп контур

    ДИК микроскоп отраженного света | Метод дифференциально-интерференционного контраста

    ДИК-Микроскопия отраженного света

    В сравнении с типовой конфигурацией, использующейся для микроскопии проходящего света, основные параметры устройств для дифференциально-интерференционного контраста (ДИК) в отраженном свете намного проще. Главным образом, это обусловлено необходимостью использования только одной двоякопреломляющей призмы Номарского или Волластона, а также тем, что один объектив работает и как конденсор и как система формирования изображения. Благодаря двойному назначению объектива микроскопа, интерференционная картина, создаваемая призмой Номарского и проецируемая на заднюю фокальную плоскость объектива, одновременно находится в фокальной плоскости осветительной оптической системы конденсора.

    Рис. 1. Оптическая система ДИК-микроскопа отраженного света

    Микроскопия в отраженном свете является одним из самых распространенных методов исследования непрозрачных образцов, обладающих, как правило, высокой отражательной способностью, благодаря чему они не поглощают и не пропускают сколь-нибудь значительные количества падающего на них света. Выступы, впадины и другие неоднородности поверхности образца создают разности оптических путей. Эти разности преобразуются микроскопом, работающим по принципу дифференциально-интерференционного контраста в отраженном свете, в изменения амплитуды или интенсивности, проявляющиеся в виде топографического профиля. В отличие от случая с проходящим светом и полупрозрачными фазовыми образцами, изображение, создаваемое по методу дифференциально-интерференционного контраста в отраженном свете, часто можно интерпретировать, как действительно трехмерное представление рельефа поверхности, обеспечивающее четкое различие между выступами и впадинами образца.

    На рисунке 1 в разрезе схематично представлены основные элементы оптической системы микроскопа, работающего по методу дифференциально-интерференционного контраста в отраженном свете. Свет от источника освещения проходит через апертурную и полевую диафрагмы (не показаны) вертикального (эпископического) осветителя и попадает на линейный поляризатор, ось распространения колебаний в котором ориентирована в направлении «восток-запад» относительно штатива микроскопа. Выходящий из поляризатора линейно-поляризованный свет отражается от поверхности полупрозрачного зеркала, установленного под углом 45 градусов к падающему пучку. Отклоненные световые волны, проходящие теперь вдоль оптической оси микроскопа, попадают в призму Номарского, расположенную над объективом в револьверном держателе микроскопа. Здесь они разделяются на ортогональные поляризованные составляющие, которые сдвигаются относительно друг друга на расстояние, определяемое геометрией двоякопреломляющей призмы.

    Работающий в качестве превосходно отъюстированного и оптически скорректированного осветительного конденсора, обладающий высокой числовой апертурой, объектив микроскопа фокусирует создаваемые призмой Номарского расщепленные ортогональные волновые фронты на поверхность непрозрачного образца. Отраженные волновые фронты проходят по оптическим путям разной длины, определяемым топографией образца, собираются и фокусируются объективом в интерференционной плоскости призмы Номарского, где они воссоединяются, и сдвиг между ними ликвидируется. Выйдя из призмы Номарского, волновые фронты проходят по прямой траектории через полупрозрачное зеркало и попадают в анализатор (второй поляризатор), ось распространения колебаний в котором ориентирована в направлении «север-юг». Составляющие ортогональных волновых фронтов, параллельные вектору распространения колебаний в анализаторе, проходят через анализатор в общем азимутальном направлении и, затем, интерферируют в плоскости нерегулируемой диафрагмы окуляра, создавая амплитудные флуктуации и формируя ДИК-изображение. В микроскопии по методу дифференциально-интерференционного контраста изображение формируется в результате интерференции двух различных волновых фронтов, достигающих плоскости изображения с некоторым относительным сдвигом по фазе. Таким образом, получающееся изображение не является простой алгебраической суммой интенсивностей света, отраженного в направлении плоскости изображения, как это имеет место в случае других методов получения изображений.

    Основное различие методов дифференциально-интерференционного контраста в проходящем и в отраженном свете состоит в том, что в первом случае для разделения и воссоединения пучка света требуются две призмы Номарского (или Волластона), тогда как для метода отраженного света нужна только одна такая призма. В ДИК-микроскопии в отраженном свете, свет дважды проходит через одну и ту же призму Номарского в противоположных направлениях. Сдвиг, возникающий при прохождении света через призму в направлении к объективу, аннулируется во время второго прохождения света через эту же призму, после отражения от поверхности образца. В этом отношении, призма Номарского и объектив выполняют для входящих световых волн ту же функцию, что и первая призма и конденсор оптической системы микроскопа, работающего в проходящем свете. Аналогичным образом, свет, отраженный от поверхности образца, собирается и фокусируется объективом в интерференционной плоскости призмы Номарского (сопряженной с задней фокальной плоскостью объектива), подобно тому, как это происходит в проходящем свете.

    На рисунках 2(a) и 2(b) показаны оптические пути, соответственно, всего волнового фронта и одиночного, отклоненного от оси светового луча, в ДИК-микроскопии отраженного света. Во всех случаях, линейно-поляризованный свет из поляризатора отклоняется полупрозрачным зеркалом и поступает в расположенную за объективом призму Номарского. Расщепленные волновые фронты фокусируются объективом, попадают на образец и затем отражаются (возвращаются) в переднюю линзу объектива в виде искаженных волновых фронтов (рисунок 2(a)) или распределения градиента непрозрачности (рисунок 2(b)). Благодаря разности оптических путей, по которым проходят два ортогональных волновых фронта, часть воссоединенного светового потока проходит через анализатор и формирует ДИК-изображение. Из рисунка 2(b) видно, что траектория падающего на образец светового луча отклоняется от оптической оси микроскопа на такое же расстояние, что и траектория луча, отраженного от поверхности образца.

    Призмы Волластона и Номарского для микроскопии по методу дифференциально-интерференционного контраста в отраженном свете изготавливаются тем же способом, что и для микроскопов, работающих в проходящем свете. Одиночная двоякопреломляющая призма состоит из двух прецизионно отшлифованных и отполированных клинообразных кварцевых пластин, одинаковых по форме, но с различной ориентацией оптических осей. В призме Волластона кварцевые клинья склеены по гипотенузам так, что их оптические оси перпендикулярны друг другу. В призме Номарского ось одного из клиньев параллельна плоской грани призмы, тогда как ось второго клина имеет наклонную ориентацию. Вследствие геометрических ограничений, интерференционная плоскость призмы Волластона располагается вблизи центра соединения кварцевых клиньев (внутри тела призмы). Интерференционная же плоскость призмы Номарского располагается на удалении в пространстве (вне тела призмы). Попадающие в призму Волластона или Номарского, падающие линейно поляризованные световые волны (параллельные оптической оси микроскопа), разделяются на две взаимно перпендикулярные (ортогональные) составляющие. Эти составляющие называются обыкновенной и необыкновенной волнами, имеют одинаковые амплитуды (70,7% исходной поляризованной волны) и когерентны (естественно, при условии, что источник освещения также когерентен). С целью получения ортогональных составляющих одинаковой амплитуды, направление колебаний вектора электрического поля линейно-поляризованного света, поступающего в призму Номарского или призму Волластона, должно составлять угол в 45 градусов относительно главной оптической оси верхнего клина призмы.

    Рис. 2. Оптический путь в ДИК-микроскопе отраженного света

    В месте склейки кварцевых клиньев призмы Волластона происходит угловое расщепление или сдвиг ортогональных волновых фронтов, в результате которого волны пространственно разделяются на некоторый угол, называемый углом сдвига. Кроме того, на границе раздела клиньев обыкновенная и необыкновенная волны меняют ориентацию и расходятся (удаляются друг от друга). Степень расхождения зависит от показателя преломления среды (кварцевой призмы), через которую проходит каждая из волн. Угол сдвига и величина пространственного разделения одинаковы для всех волновых фронтов, падающих на поверхность призмы, независимо от точки входа. Направление сдвига волнового фронта определяется осью сдвига призмы. Эта ось лежит в плоскости призмы Волластона и параллельна направлению оптической оси нижнего кварцевого клина. В призме Номарского сдвиг волнового фронта (на границе раздела «кварц-воздух») создается клином с наклонной оптической осью, этот же клин отвечает за направление оси сдвига.

    Призмы Номарского и Волластона не только разделяют линейно-поляризованный свет на две ортогональные составляющие, но и создают для каждого из волновых фронтов фазовый сдвиг (часто называемый разностью оптических путей) относительный другого (иными словами, относительный фазовый сдвиг). Величина относительного фазового сдвига волновых фронтов линейно зависит от места входа пучка света относительно направления сдвига. Следовательно, разность оптических путей для ортогональных составляющих световой волны можно регулировать поперечным перемещением призмы вдоль оптической оси микроскопа в направлении сдвига (процесс, известный под названием «внесение сдвигового замедления»). Таким образом, для создания характерного оттененного внешнего вида (с помощью хорошо известной ДИК-микроскопии), можно использовать метод манипулирования тонкой настройкой относительной интенсивности в области изображения. Изображения выглядят так, как если бы они были получены при освещении светом, исходящим из одного азимутального направления, сильно отличающегося от перпендикулярного.

    Поскольку интерференционная плоскость традиционной призмы Волластона располагается посередине призмы (приблизительно, на средней линии между двумя кварцевыми клиньями), такую призму сложно приспособить для использования со стандартными объективами микроскопов, работающих в отраженном свете по методу дифференциально-интерференционного контраста. Проблема обусловлена тем, что интерференционная плоскость призмы должна совпадать и перекрываться с задней фокальной плоскостью объектива, которая часто располагается ниже резьбового крепления, внутри стеклянной линзы. С другой стороны, внешнее расположение интерференционной плоскости призмы Номарского делает ее идеальной для использования с объективами микроскопов. Такая призма может располагаться на некотором расстоянии от объектива (например, в револьверном держателе), обеспечивая, при этом, сопряжение задней фокальной плоскости объектива с интерференционной плоскостью составной призмы. В ДИК-микроскопе, работающем в отраженном свете, призма Номарского ориентирована так, что ее интерференционная плоскость перпендикулярна оптической оси микроскопа (равно, как и совпадающая с ней задняя фокальная плоскость объектива).

    Обыкновенный и необыкновенный волновые фронты проходят к образцу через призму Номарского по оптическим путям разной длины. Разность длин оптических путей зависит от места входа волнового фронта в призму. Выйдя из призмы, волновые фронты попадают в объектив (работающий, как конденсор осветителя) с задней стороны, собираются в параллельный пучок и проецируются на образец. Отраженные от горизонтального непрозрачного образца, ортогональные волновые фронты возвращаются в объектив, но уже с противоположной (передней) стороны и на том же расстоянии от оптической оси (см. рисунок 2(b)). Волновые фронты собираются и фокусируются объективом в интерференционной плоскости призмы Номарского (на стороне, противоположной той, из которой они вышли по пути вниз). Возникающий при этом фазовый сдвиг в точности компенсирует исходную разность, созданную до входа световых волн в объектив. В результате, взаимный обмен местоположениями («перестановка») падающей и отраженной волн аннулирует относительный фазовый сдвиг по всей апертуре микроскопа. Система такого типа называются самокомпенсирующейся, а создаваемое ею изображение имеет однородную интенсивность. Процесс компенсации фазового сдвига в ДИК-системе отраженного света можно сравнить с аналогичным процессом в системе с проходящим светом, где для разделения и воссоединения светового пучка используются две согласованные, но обратные призмы Номарского (или Волластона). В системе с проходящим светом изображение конденсорной призмы (часто называемой компенсирующей призмой) проецируется на призму для объектива (главную призму), в связи с чем, значения разности оптических путей в каждой точке поверхности этих призм одинаковы. Таким образом, в конструкции с проходящим светом главная и компенсирующая призмы разделены, тогда как, в ДИК-микроскопе отраженного света главная призма является, одновременно, и компенсирующей.

    Световые пучки для ДИК-микроскопии в отраженном свете должны быть, как минимум, умеренно коллимированными. Это необходимо для обеспечения однородной компенсации по всей ширине пучка, при двух проходах через призму, а также для гарантированной регистрации фазовых сдвигов, создаваемых наклонными участками и границами области отражения в образце. Поскольку разность фаз, возникающая в пучке при первом прохождении через призму, является функцией пути, чтобы получить точную компенсацию сдвига фаз, отраженный пучок должен пройти через дополнительный участок призмы. Чтобы обеспечить должную коллимацию светового пучка и сформировать параллельные (или почти параллельные) оптической оси входные световые волны, микроскоп должен быть надлежащим образом настроен на режим освещения по Кёлеру. Недостаточно коллимированный входной пучок ведет к неоднородной компенсации в призме (и на получаемом изображении) и к нарушению однозначного фазового соотношения ортогональных составляющих в каждой точке изображения.

    Конструкция микроскопа отраженного света

    Ключевым элементом для всех видов микроскопии в отраженном свете, включая методы светлого и темного поля, поляризованного света, флуоресцентной микроскопии и дифференциально-интерференционного контраста, является вертикальный осветитель. Осветитель отраженного света (часто называемый коаксиальным или осевым) можно устанавливать на большинство серийно выпускаемых универсальных штативов для микроскопов научно-исследовательского уровня. Основная функция вертикального осветителя состоит в формировании полукогерентного и коллимированного светового пучка, направлении его в заднюю апертуру объектива микроскопа и, затем, на поверхность образца. Отраженные световые волны собираются объективом, после чего проходят через оптическую систему, аналогичную оптической системе большинства микроскопов проходящего света. Основным компонентом вертикального осветителя является частично отражающее плоское стеклянное зеркало (называемое полупрозрачным зеркалом; см. рисунок 3). Это зеркало отклоняет свет, идущий из горизонтального осветителя, на 90 градусов, в вертикальную оптическую систему формирования изображения. Кроме того, расположенное под углом 45 градусов к оптическим осям осветителя и микроскопа, полупрозрачное зеркало пропускает выходящий из объектива свет (не отклоняя его) вверх, в окуляры и фотографическую систему.

    Современные вертикальные осветители предназначены для различных систем формирования изображений и содержат, как правило, конденсорную систему, позволяющую коллимировать и контролировать световой поток от источника света. Вертикальные осветители оснащаются ирисовой апертурной диафрагмой и предварительно сфокусированной центрируемой полевой диафрагмой, что позволяет использовать микроскоп в режиме освещения по Кёлеру (рисунок 3). Кроме того, в вертикальных осветителях предусмотрены многочисленные щелевые гнезда и отверстия для установки коррекционных и нейтральных фильтров, поляризаторов, компенсаторов и комбинированных флуоресцентных фильтров в оправах кубической формы. В конфигурации для работы с объективами, скорректированными на бесконечность, вертикальный осветитель оснащается тубусной линзой (см. рисунок 1) для фокусировки световых волн в промежуточной плоскости изображения. В вертикальных осветителях могут использоваться как вольфрамово-галогенные, так и дуговые осветители (зачастую, попеременно), с широким диапазоном интенсивности освещения и спектральных характеристик.

    Рис. 3. Конструкция вертикального осветителя для микроскопа отраженного света

    Наиболее популярным источником света для микроскопии в отраженном свете (включая метод дифференциально-интерференционного контраста) является все та же галогенная лампа накаливания с вольфрамовой нитью, сравнительно дешевая и долговечная. Галогенные лампы накаливания обеспечивают умеренную яркость, но для получения цифровых изображений и традиционной микрофотосъемки на пленку требуют применения коррекционных светофильтров, с целью повышения цветовой температуры до уровней дневного света. Альтернативный вариант, удобный при больших увеличениях и очень малом сдвиговом замедлении (где критична интенсивность освещения), представляет собой ксеноновая дуговая лампа мощность 75 Вт или 150 Вт. Ксеноновые лампы характеризуются высокой яркостью во всем спектре видимого излучения, и создают цветовую температуру, приблизительно соответствующую цветовому балансу дневного света.

    При использовании белого света вольфрамово-галогенной или дуговой лампы для ДИК-микроскопии в отраженном свете, связанные с топографическими различиями в образце интерференционные полосы могут выглядеть, как расположенные вдоль структурных деталей узкие радужные узоры, вызванные ослабляющей интерференцией различных цветовых составляющих света на несколько отличающихся друг от друга участках поверхности. Использование в специальных системах освещения с более узким диапазоном длин волн (например, лазерного излучения) создает ДИК-изображение, в котором интерференционные полосы формируются волнами одной длины. Такие полосы имеют большую резкость и определенность, а их местоположение не зависит от спектральной чувствительности фотоприемника.

    На рисунке 4 представлены изображения участка поверхности в области контактной площадки интегральной микросхемы, полученные в отраженном свете от вертикального осветителя по методам темного поля, светлого поля и дифференциально-интерференционного контраста. Светлопольное изображение (рисунок 4(a)) страдает значительным отсутствием контрастности компонентов микросхемы, но дает общую картину всех деталей, имеющихся на поверхности. Темнопольное изображение (рисунок 4(b)) дает немногим более деталей, чем светлопольное, но выявляет неоднородности вблизи вертикальной шины (центр правой части изображения), а также кромки контактной площадки слева. Изображение по методу дифференциально-интерференционного контраста (рисунок 4(с)) дает наиболее полную картину структуры поверхности, включая зернистую текстуру поверхности контактной площадки, идущие от нее к шинам соединения и большое количество компонентов микросхемы в левой стороне изображения.

    Рис. 4. Изображение интегральной микросхемы в светлом поле, в темном поле и по методу ДИК

    Метод освещения по Кёлеру в микроскопе отраженного света основывается на использовании двух регулируемых диафрагм, расположенных в вертикальном осветителе. Конфигурация базовой системы такова, что изображение нити накаливания лампы фокусируется в плоскости апертурной диафрагмы, которая является сопряженной с задней фокальной плоскостью объектива (где также можно наблюдать сфокусированную нить накаливания). Использующаяся для задания ширины осветительного пучка, полевая диафрагма расположена в одной сопряженной плоскости с образцом и нерегулируемой диафрагмой окуляра. Апертурная ирисовая диафрагма расположена ближе к источнику света, а полевая диафрагма — ближе к объективу (конфигурация, обратная использующейся для проходящего света). Метод дифференциально-интерференционного контраста особенно чувствителен к освещению по Кёлеру, поскольку для создания высокой контрастности, проходящие через призму Номарского световые волны должны быть коллимированы и равномерно диспергированы по всей апертуре микроскопа.

    В большинстве микроскопов отраженного света полевую диафрагму можно центрировать в оптическом пути, частично закрыв ирисовую апертуру и перемещая саму диафрагму при помощи набора центрирующих винтов (или рукояток), расположенных рядом с рычагом регулировки отверстия диафрагмы. На практике, полевую диафрагму следует открывать только до тех пор, пока она не выйдет за пределы поля зрения или области съемки пленочной либо цифровой камерой. Основное назначение полевой диафрагмы состоит в регулировке размера поля зрения и защите от паразитных засветок, искажающих детализацию изображения образца. Сочетание полевой и апертурной диафрагм определяет геометрию конуса света и, следовательно, угол падения света на образец со всех азимутальных направлений. Для регулировки контрастности образца, размер ирисовой диафрагмы можно изменять. В общем случае, ее апертура должна составлять 60% — 80% от задней апертуры объектива. Такая настройка обеспечивает наилучший компромисс между разрешением и контрастом.

    Конфигурация ДИК микроскопа отраженного света

    Поскольку компоненты для метода дифференциально-интерференционного контраста должны быть прецизионно согласованы с оптической системой, модернизация существующего микроскопа отраженного света, который изначально не был предназначен для работы по методу дифференциально-интерференционного контраста, представляет собой нежелательный подход. И действительно, производители микроскопов сегодня предлагают промышленные и научно-исследовательские микроскопы, оснащенные вертикальными осветителями, а также оптические компоненты (обычно, продающиеся в виде комплектов), необходимые для оснащения микроскопа для работы по методу дифференциально-интерференционного контраста. Несколько различных подходов к конструкции прибора предоставляют два альтернативных варианта внесения сдвигового замедления в оптическую систему микроскопа для дифференциально-интерференционного контраста.

    Традиционный способ реализации режима дифференциально-интерференционного контраста в отраженном свете состоит в использовании призмы Номарского, закрепленной на подвижной каретке в прямоугольной оправе (часто называемой ползунком), которая устанавливается в основание револьверного держателя микроскопа, над револьвером объективов (рисунки 5(a) и 5(b)). В такой конструкции фазовый сдвиг создается поворотом дискового регулятора, расположенного в торце ползунка, который, в свою очередь, перемещает призму Номарского вперед-назад поперек оптической оси микроскопа. В альтернативной методике, называемой компенсацией Сенармона (см. рисунок 6), для каждого объектива используется отдельная неподвижная призма (рисунок 5(d)), а также четвертьволновая пластинка в сочетании с линейным поляризатором (рисунок 5(с)). При помощи этих компонентов создается разность оптических путей (фазовый сдвиг) ортогональных волновых фронтов.

    Рис. 5. Оптические компоненты ДИК-микроскопа отраженного света

    Все конструкции микроскопов для наблюдений в отраженном свете, в которых используется вертикальный осветитель, страдают от рассеянного или паразитного света, создаваемого отражениями света от осветителя на поверхностях элементов оптической системы. В частности, плоские поверхности (верхняя и нижняя) призмы Номарского могут создавать такие отражения, вызывающие чрезмерный блеск и ухудшающие качество изображения. Для противодействия этому явлению, призмы Номарского для микроскопии в отраженном свете изготавливаются так, чтобы их интерференционная плоскость располагалась под углом к оси сдвига призмы (см. рисунок 2(b)). Когда интерференционная плоскость специальной призмы Номарского совмещается (путем регулировки ее положения в скользящей оправе или в неподвижном корпусе) с задней фокальной плоскостью объектива, перпендикулярной оптической оси микроскопа, плоские внешние поверхности клиньев оказываются наклоненными относительно аксиального пути осветительного луча (рисунки 1, 2(b) и 5(a)). В результате, отражения отклоняются от полупрозрачного зеркала, образца, окуляров и системы регистрации изображений, и не оказывают отрицательного влияния на интенсивность и контраст изображения.

    В современных микроскопах расстояние между фокальной плоскостью объектива и установочной поверхностью револьверного держателя является постоянной величиной, и часто называется парфокальным расстоянием. Таким образом, во многих случаях для разделения и воссоединения светового пучка во всем диапазоне коэффициентов увеличения можно использовать одиночную призму Номарского, которая устанавливается в скользящей оправе в револьверном держателе, на фиксированном расстоянии от места установки объективов (и, соответственно, их задних фокальных областей). В некоторых случаях, особенно при больших увеличениях, изменение положений задней фокальной плоскости объектива можно компенсировать осевым перемещением призмы Номарского в пределах скользящей оправы (см. рисунки 5(a) и 5(b)). Как правило, эта операция выполняется при помощи рукоятки или рычага, которые перемещают всю призматическую конструкцию вверх и вниз вдоль оптической оси микроскопа. Фазовый сдвиг в микроскопах отраженного света, в которых для дифференциально-интерференционного контраста используется одна призма, можно создавать поперечным перемещением призмы (при помощи дискового регулятора) относительно оптической оси микроскопа. Когда микроскоп используется для работы в других режимах (светлого поля, поляризованного света, темного поля или флуоресценции), скользящую оправу вместе с призмой Номарского можно полностью убрать из оптического пути.

    Для использования в режиме дифференциально-интерференционного контраста микроскопа, оснащенного одной подвижной призмой Номарского в револьверном держателе, требуются только поляризатор и анализатор. Обычно, поляризатор монтируется вместе с кремальерой или планетарным зубчатым механизмом в тонкой прямоугольной оправе, что позволяет поворачивать азимут распространения колебаний на 360 градусов при помощи дискового регулятора. Поляризатор (в оправе) вводится в оптический путь между полевой диафрагмой и полупрозрачным зеркалом через щелевое гнездо в вертикальном осветителе. Аналогичным образом, анализатор также можно поместить в оправу, позволяющую поворачивать ось распространения колебаний. Оправы с анализаторами обычно устанавливаются в щелевое гнездо, расположенное в револьверном держателе, или рядом с тубусной линзой, в верхней части вертикального осветителя. В некоторых случаях анализатор или поляризатор устанавливается в неподвижную оправу, однако, большинство микроскопов дают оператору возможность поворачивать азимут распространения колебаний, по меньшей мере, одного из поляризаторов, что позволяет осуществлять компенсацию для непрозрачных светопоглощающих образцов. Установка поляризатора и анализатора в скользящих оправах позволяет легко убирать их из оптического пути и, таким образом, работать в других режимах получения изображений. Если поляризатор остается на месте, а призма Номарского (в скользящей оправе) удаляется из микроскопа, получается конфигурация для работы в режиме поляризованного отраженного света.

    Альтернативный механизм внесения фазового сдвига в оптическую систему ДИК-микроскопа отраженного света состоит в соединении компенсатора Сенармона в вертикальном осветителе с неподвижными призмами Номарского (см. рисунки 5(с), 5(d) и 6) для объективов. В сенармоновской конфигурации каждый объектив оснащается отдельной призмой Номарского, которая создает сдвиг, соответствующий числовой апертуре именно этого объектива. Призмы вклеиваются в оправы и помещаются в пыленепроницаемый блок, который устанавливается между объективом и револьверным держателем микроскопа (рисунок 5(d)). Объективы ввинчиваются в корпус призмы Номарского, который затем крепится в револьверном держателе. Призма Номарского помещается в оптический путь и выводится из него при помощи небольшого рычага (рычаг позиционирования призмы; см. рисунок 5(d)). Поскольку для ДИК-микроскопа с компенсатором Сенармона требуется несколько призм Номарского, принадлежности для такого микроскопа значительно дороже подвижной призмы Номарского для традиционного ДИК-микроскопа отраженного света.

    На рисунке 6 представлена оптическая система ДИК-микроскопа отраженного света, оснащенного компенсатором Сенармона. Свет от источника освещения фокусируется собирающей линзой, проходит через апертурную и полевую диафрагмы и попадает в линейный поляризатор вертикального осветителя. Непосредственно за поляризатором в оптическом пути установлена неподвижная четвертьволновая фазовая пластинка, «быстрая» оптическая ось которой ориентирована в направлении «восток-запад» относительно стойки микроскопа. Комбинация «поляризатор — фазовая пластинка» составляет компенсатор Сенармона (рисунок 5(с)). Когда в компенсаторе Сенармона азимут распространения колебаний в поляризаторе установлен параллельно «быстрой» оси фазовой пластинки, из компенсатора выходит линейно-поляризованный пучок света, который отклоняется полупрозрачным зеркалом на 90 градусов — в оптическую систему формирования изображения.

    Рис. 6. Конфигурация ДИК-микроскопа отраженного света с компенсатором Сенармона

    После того, как поляризованный свет дойдет до полупрозрачного зеркала и отклонится, остальная часть оптической системы микроскопа будет работать так же, как оптическая система обычного ДИК-микроскопа отраженного света. Таким образом, на пути вниз по оптической системе микроскопа отраженного света, пучок линейно поляризованного света сначала проходит через неподвижную призму Номарского и разделяется ею, в соответствии с геометрией клиньев призмы. Затем, будучи сфокусированным линзовой системой объектива и спроецированным на непрозрачный образец, свет отражается назад в объектив, где его расщепленные составляющие сходятся в задней фокальной плоскости (совмещенной с интерференционной плоскостью призмы Номарского). В интерференционной плоскости призмы Номарского расщепленные волновые фронты воссоединяются и попадают в анализатор, где составляющие, параллельные азимуту распространения колебаний, проходят в промежуточную плоскость изображения. В плоскости изображения, между вышедшими из анализатора волновыми фронтами происходит усиливающая и ослабляющая интерференция, в результате которой и формируется ДИК-изображение.

    Фазовый сдвиг в оптическую систему сенармоновского ДИК-микроскопа отраженного света вносится простым поворотом линейного поляризатора в вертикальном осветителе. Поворот азимута распространения колебаний в поляризаторе, относительно «быстрой» оси фазовой пластинки, создает разность оптических путей для ортогональных составляющих эллиптически или циркулярно поляризованного света. При повороте оси поляризатора на угол до 45 градусов в одном направлении, из компенсатора Сенармона выходит свет с правосторонней эллиптической или круговой (циркулярной) поляризацией. Поворот поляризатора в противоположном направлении создает волновые фронты с левосторонней эллиптической или круговой поляризацией. Когда ортогональные волновые фронты входят в призму Номарского и разделяются на ее поверхности, созданная поворотом поляризатора разность оптических путей (в диапазоне «плюс-минус полволны») увеличивается. Создание разности оптических путей компенсатором Сенармона аналогично эффекту, достигающемуся перемещением призмы Номарского поперек оптического пути ДИК-микроскопа традиционной конфигурации.

    Характеристики образцов и их изображений, получаемых методом дифференциально-интерференционного контраста в отраженном свете

    В ДИК-микроскопии в отраженном свете, разность оптических путей, создаваемая непрозрачным образцом, зависит от геометрии топографического профиля (рельефа поверхности) этого образца и от фазового запаздывания, обусловленного отражением от его поверхности расщепленных и искаженных ортогональных волновых фронтов. Рельеф поверхности большинства образцов, изображения которых получают по методу дифференциально-интерференционного контраста, изменяется в пределах сравнительно узкого диапазона (обычно, измеряющегося нанометрами или микрометрами). В связи с этим, такие образцы можно считать, в принципе, плоскими, с малыми градиентами оптического пути, изменяющимися по величине в пределах обширной поверхности. Возникающие на имеющихся в образце границах областей отражения, фазовые изменения (сдвиги) также создают разность оптических путей, повышающую контрастность ДИК-изображения. Эти фазовые различия вероятнее всего обнаружить на переходах, между различными средами, таких, как границы зерен и фазовые переходы в металлах и сплавах, либо на участках алюминия или окисла металла в интегральных микросхемах.

    Несмотря на то, что в последние несколько лет ДИК-микроскопия в отраженном свете интенсивно используется для металлографических исследований образцов, наиболее широкое распространение и значимость она получила в сфере контроля качества продукции в полупроводниковой промышленности, как инструмент внутрипроизводственного технологического контроля. Более того, основные производители сегодня предлагают микроскопы, сконструированные исключительно для исследования кристаллических пластин и подложек интегральных микросхем (по методам дифференциально-интерференционного контраста, а также светлого и темного поля). Получение изображений по методу дифференциально-интерференционного контраста позволяет с высокой точностью исследовать большие объемы пластин на наличие дефектов, которые не выявляются другими методами микроскопии (см. рисунок 4). Мельчайшие вариации геометрического профиля поверхности пластины проявляются в виде теневого рельефа, а максимальный контраст достигается настройкой призмы Номарского на передачу фона в виде нейтрального серого цвета.

    Перемещение призмы Номарского вдоль оптической оси микроскопа традиционной ДИК-конфигурации для отраженного света (либо вращение поляризатора в приборе с компенсатором Сенармона), создает для расщепленных волновых фронтов разность оптических путей, которая добавляется к разности, возникающей при отражении ортогональных волновых фронтов от поверхности образца. Конечным результатом является псевдо-трехмерное рельефное изображение образца, на котором участки, соответствующие более длинному оптическому пути (рельеф поверхности или границы областей отражения), выглядят более светлыми или темными, а участки, соответствующие более короткому оптическому пути, выглядят имеющими обратные (противоположные) уровни освещенности. Отличительные признаки на поверхности образца выглядят как приподнятые плато или впадины, в зависимости от ориентации градиента или характеристик отражения. В отличие от дифференциально-интерференционного контраста в проходящем свете, трехмерный вид изображения часто может использоваться в качестве индикатора фактической геометрии образца, где реальные топографические особенности также представляют собой места изменения фазовых градиентов.

    После внесения фазового сдвига в оптическую систему микроскопа, теневая ориентация присутствует практически в каждом изображении, полученном по методу дифференциально-интерференционного контраста в отраженном свете. Кроме того, направление оптического сдвига становится очевидным, и может быть определено, как ось, соединяющая области изображения с наибольшими и наименьшими значениями интенсивности. Становятся различимыми особенности поверхности, поскольку для деталей образца, имеющих топографический профиль возвышенностей или впадин относительно окружающей поверхности, направление теней часто изменяется на обратное. Поскольку ось сдвига неподвижна (вследствие конструкции призмы Номарского и других ограничений, связанных с ориентацией волнового фронта в ДИК-микроскопии отраженного света), воздействовать на контраст образца путем простой настройки микроскопа (изменения направления оси) невозможно. Однако, относительный фазовый сдвиг между разделенными волновыми фронтами можно реверсировать путем перестановки призмы Номарского с одной стороны оптической оси микроскопа на другую (замена положительного значения сдвигового замедления отрицательным, и наоборот). Этого же эффекта можно достичь поворотом на соответствующий отрицательный угол поляризатора в компенсаторе Сенармона. В случае такого изменения фазового запаздывания ориентация границ светлых и темных участков изображения изменяется на 180 градусов.

    Эффекты ориентации на ДИК-изображениях в отраженном свете

    Как упоминалось выше, изображениям, полученным по методу дифференциально-интерференционного контраста в отраженном свете, по природе присущ выраженный азимутальный эффект. Этот эффект является результатом асимметричной ориентации светоделительной призмы Номарского относительно оптической оси микроскопа и поляризаторов. По этой причине для многих непрозрачных образцов существуют заранее определенные ограничения по ориентации, связанные с достижением максимальной контрастности изображений по методу дифференциально-интерференционного контраста (параллельно или перпендикулярно оси сдвига), и ограничивающие свободу вращения образца. Это особенно критично для высокоупорядоченных полупроводниковых пластин, где большое количество протяженных линейных участков перемежается с тесно расположенными периодическими структурами.

    Рис. 7. Эффекты азимутальной ориентации на ДИК-изображениях в отраженном свете

    Азимутальные эффекты микроскопии по методу дифференциально-интерференционного контраста в отраженном свете можно с выгодой использовать, оснастив микроскоп круглым предметным столиком, поворачивающимся на 360 градусов. Важнейший элемент микроскопии в поляризованном свете, поворотный столик позволяет поворачивать образец относительно оси сдвига и, тем самым, повышать до максимума или понижать до минимума контраст тех или иных деталей образца. Минимальный контраст в микроскопии по методу дифференциально-интерференционного контраста в отраженном свете достигается для линейных фазовых образцов, вытянутых вдоль направления сдвига, но при повороте столика на 90 градусов контраст может существенно изменяться. Нелинейные металлографические образцы, например, границы мозаичных структур зерен, контакты, аморфные сплавы и кристаллические сферолиты не демонстрируют существенных азимутальных эффектов в ДИК-микроскопии отраженного света, благодаря чему дают, как правило, изображения удовлетворительного качества в различных ориентациях.

    На рисунке 7 представлены два образца кристалла интегральной полупроводниковой микросхемы. Оба образца характеризуются в значительной степени периодичной структурой, а их изображения, полученные по методу дифференциально-интерференционного контраста, демонстрируют высокую степень асимметрии. Рисунки 7(a) и 7(b) иллюстрируют одну и ту же область арифметическо-логического устройства микропроцессора, расположенную вблизи контактной площадки и содержащую множество шин, а также линии соединения с контактными площадками и регистры. Когда продольная (длинная) ось контактной площадки микросхемы ориентирована перпендикулярно оси сдвига (с северо-запада на юго-восток для всех изображений на рисунке 7), центральная трапецеидальная область шин получается очень темной и почти исчезает (рисунок 7(a)), теряя практически все различимые детали. Поворот микросхемы на 90 градусов (рисунок 7(b)) выявляет центральную трапецеидальную структуру шин, но приводит к потере контрастности соседних участков. Оптимальной, с точки зрения выявления всех поверхностных деталей представленной микросхемы, является такая ее ориентация, при которой продолговатая область шин располагается под углом 45 градусов к оси сдвига микроскопа.

    На рисунке 7(с) представлено несколько меток совмещения фотошаблонов на поверхности полупроводника. Одна из меток расположена на металлической контактной площадке, а другая находится на гладкой поверхности оксида металла. Обе метки содержат по восемь линий одинаковой длины, расщепленных одинаковыми 45-градусными секторами. Ориентированные параллельно оси сдвига, линии метки, расположенной на поверхности оксида металла, выглядят очень темными, а верхняя левая линия метки на контактной площадке практически не видна. Линии меток, ориентированные перпендикулярно оси сдвига («северо-восток — юго-запад»), намного светлее и видны намного лучше линий другой ориентации, хотя линии, параллельные и перпендикулярные границам изображения, также видны достаточно четко.

    Корреляцию между контрастом и ориентацией образца в микроскопии по методу дифференциально-интерференционного контраста, во многих случаях можно с выгодой использовать для исследования протяженных линейных структур (особенно, в полупроводниковой промышленности). Получение изображений по методу дифференциально-интерференционного контраста в нескольких ориентациях часто дает четкое представление о сложной морфологии многих протяженных линейных образцов. Более того, при сочетании метода получения оптических срезов с азимутально-специфическим получением изображений, микроскопия по методу дифференциально-интерференционного контраста в отраженном свете часто позволяет выявить такие детали, которые трудно, либо вовсе невозможно распознать при помощи других методик.

    Оптическое окрашивание в микроскопии по методу ДИК в отраженном свете

    Фазовым сдвигом расщепленных волновых фронтов в ДИК-микроскопии можно манипулировать за счет использования компенсационных пластин, например, пластин первого порядка (часто называемых полноволновыми или красными пластинками первого порядка), обладающих фазовым сдвигом, равным целой длине волны зеленой области спектра видимого излучения (550 нанометров). Компенсационные пластинки обеспечивают более полный контроль контрастности деталей образца относительно интенсивности и цвета фона, а также позволяют более точно настраивать сдвиг между волновыми фронтами. Кроме того, эти двоякопреломляющие компоненты часто используются для оптического окрашивания непрозрачных образцов, которые при нормальных условиях видны в ограниченном диапазоне оттенков серого.

    Рис. 8. Оптическое окрашивание в ДИК-микроскопии отраженного света

    Оптическое окрашивание осуществляется путем перемещения призмы Номарского поперек оптического пути на значительное расстояние от точки максимального ослабления, либо за счет установки полноволнового компенсатора позади четвертьволновой пластинки в сенармоновской конфигурации. При полнодиапазонном перемещении призмы Номарского или повороте поляризатора в компенсаторе Сенармона (связанном с полноволновой пластиной), можно наблюдать весь спектр интерференционных цветов. В микроскопе с установленным компенсатором фон окрашивается в пурпурный цвет, а контраст изображения формируется желтым цветом первого порядка и синим цветом второго порядка Ньютоновского интерференционного спектра. При таких условиях небольшие изменения сдвигового замедления в результате перемещения призмы Номарского (или поворота поляризатора в компенсаторе Сенармона) приводят к быстрым изменениям интерференционных цветов, наблюдаемых в структурах со значительной и слабой рельефностью и фазовыми градиентами отражения.

    На рисунке 8 представлены изображения трех образцов, полученные по методу дифференциально-интерференционного контраста в отраженном свете, с полноволновой пластинкой, установленной за компенсатором Сенармона в микроскопе с неподвижной призмой. Рисунок 8(a) выявляет поверхностные дефекты высокотемпературного сверхпроводящего керамического монокристалла, выращенного из аморфного расплава при температуре 950 градусов Цельсия. Несмотря на то, что двойниковые дефекты в этом кристалле трудно различить без использования методов оптического окрашивания, все же, при использовании фазовой пластинки нарушения в нем достаточно очевидны, и проявляются в виде значительных флуктуаций интерференционных цветов. Аналогично, на изображении, полученном при использовании техники оптического окрашивания, в микроскопе, работающем по методу дифференциально-интерференционного контраста в отраженном свете, четко проявляется нарушение прочности связи в тонкой магнитной пленке (рисунок 8(b)). При наблюдении в белом свете, точки отрыва в пленке видны в виде складок, создающих красочный рельеф в окружении интерференционных полос. И наконец, на рисунке 8© в четком цветовом контрасте представлены детали шины интегральной микросхемы. При наблюдении интегральных микросхем по методу дифференциально-интерференционного контраста в отраженном свете могут возникать различные дифференциальные цветовые эффекты, обусловленные рядом факторов, включая наличие или отсутствие нитрид-кремниевых или полиимидных защитных покрытий, фазовые соотношения в исходных материалах и разброс параметров технологического процесса.

    Хотя оптическое окрашивание можно использовать и в ДИК-микроскопии проходящего света, в отраженном свете эффективность намного выше, особенно при исследовании планарных образцов, таких, как интегральные микросхемы, где вариации поверхностного рельефа ограничены сравнительно узким диапазоном. В отличие от прозрачных образцов, для которых изображения получаются в проходящем свете, рельеф поверхности непрозрачных образцов эквивалентен геометрической толщине. Кроме того, локализованные различия фазового замедления при отражении падающего света от непрозрачной поверхности можно сравнить с вариациями показателя преломления, возникающими в образцах, исследуемых в проходящем свете. Во многих случаях применения ДИК-микроскопии в отраженном свете, детали образца часто накладываются на однородный, в фазовом отношении, фон. Этот фактор позволяет извлечь огромную пользу из повышения контрастности путем оптического окрашивания (интерференционной техники). В случае тонких прозрачных образцов, которые представляются оптимальными для получения изображений по методу дифференциально-интерференционного контраста в проходящем свете, эффективный диапазон использования оптического окрашивания сильно ограничивается (несколькими долями длины волны), что делает этот метод полезным для исследования только достаточно толстых образцов.

    Получение оптических срезов в ДИК-микроскопии отраженного света

    Возможность использовать для ДИК-микроскопии отраженного света объективы с большими значениями числовых апертур позволяет создавать необыкновенно тонкие оптические срезы сфокусированного изображения. Свободный от мешающих флуктуаций интенсивности, (создаваемых яркими участками), возникающих в оптических плоскостях вне фокальной точки, этот метод дает четкие изображения, являющиеся аккуратными срезами сложного трехмерного непрозрачного образца, имеющего существенно рельефную поверхность. Это свойство часто используется для получения четких оптических срезов отдельных деталей поверхности интегральных микросхем, при минимальных помехах от структур, находящихся выше и ниже фокальной плоскости.

    Рис. 9. Получение оптических срезов в ДИК-микроскопии отраженного света

    В микроскопии отраженного света главную роль в определении контрастности и разрешения изображения играет апертурная диафрагма вертикального осветителя. Уменьшение размера апертуры повышает глубину поля и общую резкость изображения, одновременно улучшая его контраст. Однако, при слишком малых апертурах диафрагмы становятся заметными дифракционные искажения, существенно уменьшается яркость (интенсивность) изображения и ухудшается разрешение. Зачастую, оптимальная настройка апертурной диафрагмы представляет собой компромисс между возможностью точного отображения деталей образца с достаточным контрастом и сохранением разрешения, необходимого для отображения мельчайших особенностей, не создавая дифракционных искажений.

    Серия представленных на рисунке 9 изображений, полученных с большим увеличением по методу дифференциально-интерференционного контраста, иллюстрирует три отдельные фокальные плоскости (в одном и том же поле зрения) перекрывающихся поверхностных структур типичной интегральной микросхемы. При освещении по методу светлого или темного поля эти структуры часто наблюдаются слившимися, и могут создать серьезную путаницу при попытке получить изображение характерных особенностей поверхности. Изображение на рисунке 9(a) выявляет несколько контактных площадок из оксида металла на верхней поверхности кристалла интегральной микросхемы, включая перемычки (миниатюрные соединения между вертикальными слоями) и часть токопроводящей шины. Фокусировка микроскопа на несколько сотых микрона глубже выявляет многочисленные соединения в центральной части микросхемы (рисунок 9(b)). Еще глубже, вблизи первых слоев, нанесенных поверх беспримесного кремния (подложки), виден ряд соединительных дорожек из оксида металла, испещренных упорядоченным массивом точек межслойных соединений (рисунок 9(с)). Возможности ДИК-микроскопии в отраженном свете, в отношении получения оптических срезов, со всей очевидностью демонстрируются способностью создавать изображения конкретных фокальных областей на поверхности сложной интегральной микросхемы.

    Заключение

    Основная особенность микроскопии по методу дифференциально-интерференционного контраста, как в отраженном, так и в проходящем свете, состоит в том, что расщепленные ортогональные составляющие волновых фронтов, — прошедшие через образец или отраженные от него, смещаются относительно друг друга всего лишь на доли микрона (расстояние сдвига), что намного меньше разрешающей способности объектива. Наблюдателю совершенно не видно, что конечное изображение создается в окулярах за счет суперпозиции двух упомянутых составляющих волнового фронта, поскольку их смещение слишком мало для разрешающей способности микроскопа. Тем не менее, каждая точка изображения образуется двумя близко расположенными и перекрывающимися дифракционными кругами (дисками Эйри), порождаемыми соседними точками образца. Интенсивность каждого диска соответствует конкретной разности оптического пути, создаваемого для него (диска) образцом. Контрастность изображения описывается дифференциалом, поскольку является функцией градиента оптического пути по поверхности образца: чем круче градиенты, тем выше контрастность.

    В состав основных кандидатов на исследования по методу ДИК-микроскопии в отраженном свете входит широкий спектр образцов для металлографических исследований, минералы, сплавы, металлы, полупроводники, стекло, полимеры и композитные материалы. Высокая разрешающая способность метода позволяет выявлять детали образца, имеющие размеры всего несколько нанометров. Например, изображение спиральных дислокаций высотой всего лишь 30–40 нанометров, растущих в кристалле карбида кремния, можно получить в виде высокого рельефа, а тонкие пленки, толщиной около 200 нанометров, успешно наблюдаются в желтом монохроматическом свете натриевой лампы. Микроскопия по методу дифференциально-интерференционного контраста в отраженном свете позволяет наблюдать процессы фазовых превращений (переходов) и рекристаллизации, а также мельчайшие детали на поверхности стекол и полимеров.

    Несмотря на ограниченность использования, главным образом, промышленным применением, микроскопия по методу дифференциально-интерференционного контраста представляет собой мощное средство, прочно утвердившееся сегодня в сфере производства полупроводниковых приборов. Микроскопы, работающие по методу дифференциально-интерференционного контраста в отраженном свете, обеспечивают контроль качества и помогают предотвращать отказы миллионов ежегодно производимых компьютерных микросхем. Специалистам, исследующим интегральные микросхемы, приходится проводить за микроскопами бесчисленное количество часов. В связи с этим, сегодня производители уделяют особое внимание эргономическим аспектам конструкций вновь создаваемых микроскопов отраженного света. В результате, несомненно, будут создаваться все более совершенные микроскопы, позволяющие получать превосходные ДИК-изображения и сводить к минимуму дискомфорт и нейромышечные нарушения для операторов, выполняющих длительные исследования идентичных образцов.


    О флуоресцентном микроскопе — Микросистемы

    «Микроскоп флуоресцентный – это оптический микроскоп, оснащённый источником света, несколькими светофильтрами (возбуждающим, барьерным) и дихроическим зеркалом».

    Поскольку цель флуоресцентного микроскопа — наблюдать флуоресценцию при большом увеличении, то для знания его устройства, надо понимать, что такое флуоресценция и как она возникает.


    Принцип работы

    Флуоресцентный микроскоп — оптический прибор, показывающий в увеличенном виде клетки, поверхности и частицы с флуоресцирующими красителями. Схематично механизм флуоресценции выглядит так: При облучении флуоресцирующего вещества (ФВ) светом с определенной длиной волны (частотой) электроны ФВ поглощают квант света, приобретают дополнительную энергию и переходят на более высокую орбиту. Электроны не могут долго оставаться в возбужденном состоянии на более высокой орбите и возвращаются на ранее занимаемую. При этом излишек энергии выпускается также в виде кванта света, но с меньшей энергией (частотой) или, соответственно, большей длиной волны. Часть энергии тратится на так называемую релаксацию. Разность длин волн возбуждающего и испускаемого света является основополагающим принципом наблюдений в флуоресцентной микроскопии.

     

    Детектирование флуоресценции широко применяется в разных областях науки и является одним из самых чувствительных методов неразрушающего контроля. С помощью флуоресценции можно определить содержание всего одной молекулы связанной с флуорофором. Если в образце несколько флуорофоров, то для их детектирования используют узкополосные (с разным диапазоном волн), либо широкополосные блок-фильтры. При всех своих возможностях, флуоресцентный метод имеет и ограничения, так, например, не всегда можно подобрать фильтры так, чтобы исследовать отдельные флуорофоры (флуорохромы) в образце, если диапазоны длин волн их возбуждения пересекаются.

    Подбирая фильтры для своих исследований, обратите внимание на флуоресцентный краситель. Для удобства подбора фильтров предлагаем ознакомиться со следующими таблицами:

    Таблица №1

    Таблица №2

    В качестве источника света флуоресцентных (люминесцентных) микроскопов используются лампы — ртутные, металлогалидные, галогенные, светодиодные, а также лазеры.

    Ртутные лампы – наиболее распространённые осветители для флуоресцентной микроскопии на данный момент, но они могут быть запрещены к закупке через государственные торги РФ с 2018 года. Эти лампы не могут обеспечить равномерную интенсивность в УФ и видимом диапазоне волн, их свечение наиболее интенсивно при длинах волн в 313, 334, 365, 406, 435, 546 и 578нм. Из-за такой пиковой интенсивности они часто используются для УФ возбуждения. У них существуют и проблемы с безопасностью, поэтому не рекомендуется их использование дольше срока годности, иначе они могут взорваться и повредить коллекторную линзу.

    У галогенных ламп схожие с ртутными лампами проблемы, но вдвое-вчетверо больший ресурс. Тем не менее, из-за низкой интенсивности и отсутствия УФ части спектра они не так широко распространены как ртутные лампы.

    Светодиодные лампы стали применять сравнительно недавно для флуоресцентной микроскопии. Они не требуют юстировки, полностью безопасны, имеют более равномерное распределение интенсивности, чем газоразрядные (ртутные, галогенные). Еще один плюс таких ламп: установив линзы Fly-eye, всё поле зрения будет равномерно освещено.

    Лазеры испускают интенсивный когерентный световой пучок, имеющий малую расходимость. Благодаря когерентности пучка света разрешающая способность системы выше. Поэтому их используют для конфокальной микроскопии сверхвысокого разрешения.

    Заключительный этап конфигурирования флуоресцентного микроскопа – это выбор фотокамеры. Для флуоресценции важно подобрать камеру с высоким динамическим диапазоном (чувствительностью), большим временем экспозиции, малым количеством шумов и большим размером пикселя, потому что каждая линза в оптическом пути микроскопа поглощает часть света, и на матрицу камеры попадает мало света. Да и само флуоресцентное свечение неравномерно. Наш мозг выполняет роль выдержки в камере и собирает усредненную картину флуоресценции, а камере необходимо время, чтобы на матрицу попало достаточно количество света от образца.

    Камеры с пзс (ccd) матрицами и активным охлаждением предпочтительнее для слабой флуоресценции, потому что их матрицы чувствительнее кмоп (cmos) и меньше подвержены цифровым шумам.

    Да, быстродействие (количество кадров в секунду) CCD камеры будет немного ниже, чем у CMOS, но для флуоресценции это не имеет решающего значения.

    Современное программное обеспечение камер состоит из различных модулей. Для флуоресценции наиболее полезными окажутся модули сшивки изображения, подсчёта численности объектов, FRAP и FRET анализ (совмещение и наложение) флуоресцентных снимков. Все эти модули есть в программном обеспечении CellSens и BZ analyser.

    Поскольку в конфокальной микроскопии тоже используют флуоресценцию, то уточним, что всё вышесказанное относится именно к эпифлуоресценции. Приведем краткий исторический очерк:

    Первый эпифлуоресцентный микроскоп, в котором была решена проблема разделения возбуждающего света и флуоресцентного сигнала был сконструирован в 1929 году.

    Этот микроскоп отличался от предыдущих щелевых флуоресцентных микроскопов тем, что детекция флуоресцентного сигнала осуществлялась только со стороны образца, поэтому наблюдатель видел только эмиссию света от флуорофора. С течением времени расширилась область применения таких микроскопов,например, флуоресцентные микроскопы стали использовать в материаловедении, для выявления дефектов поверхности, содержания полимеров в битуме, анализа краски и других. Возросшее разрешение флуоресцентных микроскопов позволяет вести более точную детекцию сигнала и получать более информативные изображения.Снимки стали информативнее, благодаря наложению изображений, снятых с использованием разных фильтров.

    Микроскопия зародилась в Германии, и самые известные производители микроскопов Европы имеют немецкие корни. Однако,с конца двадцатого века, японские производители стали активно и на равных конкурировать с классической немецкой школой микроскопостроения.

    Среди микроскопов классической немецкой школы особенно выделяются: Hund H600 FL, оснащённый слайдером с пятью блоками фильтров и ртутной лампой, а также Hund Wilovert AFL – инвертированный микроскоп с 100Вт ртутной лампой.

    Японские производители микроскопов: корпорация Olympus – выпустившая первый серийный микроскоп в Азии, входящая в рейтинг лучших производителей оптики и компания Keyence – выпускающая роботизированные микроскопы для высокотехнологичных и точных производств.

    Модели Olympus для флуоресценции:

    • Лабораторный флуоресцентный микроскоп CX43 со светодиодным (LED) флуоресцентным модулем (с одним блоком фильтров).
    • Исследовательские флуоресцентные микроскопы BX43, BX53 и BX63 оснащаются флуоресцентным светодиодным/ртутным или ксеноновым осветителем с турелью для восьми(маленьких) и шести (больших).блоков-фильтров.
    • Инвертированный лабораторный флуоресцентный микроскоп CKX53 – комплектуется флуоресцентным модулем на 2 блока фильтров.
    • Инвертированные исследовательские микроскопы IX73 и IX83 – оснащаются флуоресцентным модулем на 6 блок-фильтров. IX83 – может быть переоборудован в конфокальную систему.
    • Флуоресцентные микроскопы на основе стереомикроскопов SZX10 и SZX16.

    По вопросам консультации и поставки — свяжитесь с нами любым удобным способом:

    +7 (495) 234-23-32 

    [email protected]

    Форма обратной связи

    Микроскопия проливает свет на загадочное происхождение древесного угля

    Большая часть древесного угля, продаваемого в Европе, используется для барбекю, но его происхождение не всегда ясно. Фото: Getty

    Почти половина древесного угля для барбекю, закупаемого в Европе, содержит древесину из тропических и субтропических лесов, при этом небольшая ее часть сертифицирована как экологичная, что вызывает опасения, что часть угля заготавливается незаконно.

    Этот вывод сделан в результате анализа 1 , 2 тысяч образцов древесного угля с использованием новаторской методики микроскопии.Ученые также обнаружили, что на многих мешках с древесным углем неправильно указан тип древесины внутри или вообще не упоминается, что придает вес опасениям относительно их истинного происхождения.

    «Это всего лишь обзор, но этого абсолютно достаточно, чтобы вызвать тревогу, потому что мы нашли так много тропической древесины», — сказал Фолькер Хааг, анатом по дереву из Тюненского института исследований древесины в Гамбурге, Германия, который руководил работой.

    Исследователи использовали достижения в области микроскопии, которые изменили попытки исследовать непрозрачный многомиллионный международный бизнес по производству древесного угля.Активисты считают, что ежегодно в Европу в виде древесного угля может поступать до двух миллионов тонн незаконно заготовленной тропической древесины.

    В 2019 году Европейский союз импортировал около 750 000 тонн древесного угля. Страны-поставщики включают Нигерию (20%) и Парагвай (7%), которые известны широкомасштабной незаконной вырубкой лесов. Но когда любой древесный уголь поступает в Европу, его можно продавать на законных основаниях, поскольку он не подпадает под действие Европейского регламента по древесине (EUTR), законодательства, которое запрещает фирмам размещать на рынке ЕС древесину, заготовленную нелегально.

    Источник: Реф. 1

    Цифровая реконструкция

    Древесный уголь сложно анализировать, потому что оригинальная древесина утратила многие характерные черты, такие как цвет и запах, и легко крошится. Но Хааг разработал метод трехмерной микроскопии в отраженном свете, который в цифровом виде реконструирует срезы древесного угля из комков неправильной формы для создания изображений, по которым можно идентифицировать исходную древесину — часто на уровне рода. Этого достаточно, чтобы опровергнуть многие утверждения о происхождении дерева.

    Команда Хаага проанализировала 4500 образцов из 150 мешков с древесным углем, купленных в 11 странах в 2019 и 2020 годах. Около 46% включали древесину из субтропических и тропических лесов, в которых наблюдается самый высокий уровень обезлесения в мире. В Испании, Италии, Польше и Бельгии этот показатель составлял более 60% (см. «Обугленные источники»). Из них только четверть пакетов имела логотипы организаций по сертификации устойчивого развития, таких как Лесной попечительский совет (FSC).

    Кроме того, только на четверти мешков указана порода или происхождение древесины, и только половина этих заявлений была правильной.Работа была опубликована в IAWA Journal , издании Международной ассоциации анатомов дерева.

    «Если вы найдете продукт с неправильным видом внутри, это очень сильный признак незаконности», — говорит соавтор Йоханнес Цахнен, специалист по лесной политике из берлинской благотворительной организации WWF Германии. «В сочетании со знанием того, что большая часть тропического угля поступает из Нигерии и Парагвая, существует высокая вероятность незаконности».

    Занен призывает распространить EUTR на древесный уголь, а власти заставить поставщиков маркировать свои пакеты.

    Фил Гильери, директор по обеспечению целостности цепочки поставок в FSC со штаб-квартирой в Бонне, Германия, говорит, что исследование показывает, что когда используется сертификация устойчивости, она в значительной степени точна. С 2017 года FSC использует другой метод микроскопии для проверки заявлений о происхождении на мешках с углем, чтобы остановить «отмывание» древесины. «Возможность тестировать древесный уголь оказала огромное влияние, — говорит Гильери.

    Микроскопия проливает свет на схематичное происхождение древесного угля

    Около половины древесины, добываемой в лесах во всем мире, используется в качестве топливной древесины для производства энергии, около 17 процентов перерабатывается в древесный уголь (FAO 2017), который представляет собой один из наименее контролируемых/отслеживаемых сегментов европейского рынка древесины .Хотя древесный уголь занимает значительную долю на европейском рынке изделий из древесины, он еще не подпадает под действие Европейских правил по лесоматериалам (EUTR), (ЕС) № 995/2010. В рамках этого проекта было исследовано и оценено в общей сложности 150 партий древесного угля из одиннадцати стран (Украина, Чехия и Бельгия) на основе метода 3D-микроскопии в отраженном свете. Исследование с высоким разрешением показывает долю различных европейских пород древесины по сравнению с долей древесины из субтропических и тропических регионов.Доля субтропических и тропических видов на удивление высока: около 46% для материала, полученного из всех исследованных стран, и намного более 60% для Испании, Италии, Польши и Бельгии. Исследование показывает, что при сравнении результатов по древесному углю, полученному из этих стран, наблюдается обратно пропорциональное соотношение сертифицированной продукции (FSC и PEFC) и продукции с древесиной субтропического или тропического происхождения. В партиях древесного угля из Швейцарии доля древесины субтропического или тропического происхождения составляет всего 13.5%, тогда как у сертифицированной продукции 60%. В материале, полученном из Испании, доля древесины из субтропических или тропических регионов составляет 67%, тогда как доля сертифицированной продукции составляет всего 8%. Тщательная проверка декларации на упаковке, сопроводительных сертификатов и информации о происхождении выявила тревожные факты: только 25% проверенных партий содержат информацию о мешках, например, в отношении обрабатываемых пород древесины; и более половины таких деклараций были неверными и/или неполными.Был проведен анализ торговых потоков стран-членов ЕС, чтобы помочь лучше понять взаимосвязь между международными торговыми потоками древесного угля и конечными продуктами в европейских странах. Этот подход способствует лучшему пониманию транзита древесного угля в Европе, а его результаты являются сильным мотивом для включения древесного угля в соответствующее приложение к EUTR.

    Самые четкие изображения, когда-либо раскрывающие неоднородное лицо живых бактерий | Новости ЛЧ

    Самые четкие изображения живых бактерий, которые когда-либо были получены исследователями UCL, раскрывают сложную архитектуру защитного слоя, который окружает многие бактерии и затрудняет их уничтожение антибиотиками.

    Исследование, опубликованное на этой неделе в Трудах Национальной академии наук США и проведенное в сотрудничестве с учеными из Национальной физической лаборатории, Королевского колледжа Лондона, Оксфордского университета и Принстонского университета, показывает, что бактерии с защитными внешними слоями – называемые грамотрицательными бактериями, могут иметь более сильные и более слабые пятна на своей поверхности.

    Команда обнаружила, что защитная внешняя мембрана бактерий содержит плотные сети белковых строительных блоков, чередующихся с участками, которые, по-видимому, не содержат белков.Вместо этого эти участки обогащены молекулами с сахарными цепочками (гликолипидами), которые удерживают наружную мембрану плотной.

    Это важное открытие, поскольку прочная внешняя мембрана грамотрицательных бактерий препятствует проникновению в клетку некоторых лекарств и антибиотиков: эта внешняя мембрана является одной из причин устойчивости таких бактерий к противомикробным препаратам (включая A. baumannii , P.  aeruginosa и энтеробактерии, такие как Salmonella и E.coli ) в настоящее время считается большей угрозой, чем грамположительные бактерии, такие как устойчивый S. aureus (известный как MRSA).

    «Внешняя мембрана представляет собой грозный барьер против антибиотиков и является важным фактором, делающим инфекционные бактерии устойчивыми к лечению. Однако остается относительно неясным, как устроен этот барьер, поэтому мы решили изучить его так подробно», — пояснил автор-корреспондент профессор Барт Хугенбум (Лондонский центр нанотехнологий в UCL и UCL Physics & Astronomy).

    «Изучая живые бактерии от молекулярного до клеточного масштаба, мы можем увидеть, как мембранные белки образуют сеть, которая охватывает всю поверхность бактерий, оставляя небольшие промежутки для участков, не содержащих белка. Это говорит о том, что барьер не может быть одинаково трудно пробить или растянуть по всей бактерии, но может иметь более сильные и слабые места, которые также могут быть нацелены на антибиотики».

    Чтобы лучше понять эту архитектуру, ученые провели крошечной иглой над живыми Escherichia coli ( E.coli ) бактерий, таким образом «чувствуя» их общую форму. Поскольку кончик иглы имеет ширину всего несколько нанометров, это позволило визуализировать молекулярные структуры на поверхности бактерий.

    Полученные изображения показывают, что вся внешняя мембрана бактерий заполнена микроскопическими отверстиями, образованными белками, которые позволяют проникать питательным веществам, предотвращая проникновение токсинов. Хотя было известно, что внешняя мембрана содержит много белков, ее скученность и неподвижность оказались неожиданными.

    Удивительно, но на изображениях также было обнаружено множество пятен, которые не содержали белков. Эти пятна содержат гликолипид, обычно обнаруживаемый на поверхности грамотрицательных бактерий. Кроме того, другой тип прыщеобразного пятна образовался, когда части мембраны были вывернуты наизнанку из-за мутаций. В этом случае появление этих дефектов коррелировало с повышенной чувствительностью к бацитрацину, антибиотику, обычно эффективному только против грамположительных, но не против грамотрицательных бактерий.

    Как объяснила Джорджина Бенн, проводившая микроскопию бактерий в лаборатории профессора Хугенбума в Калифорнийском университете: «На изображении внешней мембраны бактерий в учебнике показаны белки, распределенные по мембране неупорядоченным образом, хорошо смешанные с другими строительными блоками мембрана. Наши изображения демонстрируют, что это не так, а липидные пятна отделяются от богатых белком сетей точно так же, как масло отделяется от воды, в некоторых случаях образуя щели в панцире бактерий.Этот новый взгляд на внешнюю мембрану означает, что теперь мы можем начать исследовать, имеет ли такой порядок значение для функции мембраны, целостности и устойчивости к антибиотикам и как».

    Команда также предполагает, что результаты могут помочь объяснить способы, с помощью которых бактерии могут поддерживать плотно упакованный защитный барьер, сохраняя при этом возможность быстрого роста: обычная бактерия E. coli удваивается в размере, а затем делится за 20 минут при благоприятных условиях. . Они предполагают, что гликолипидные участки могут допускать большее растяжение мембраны, чем белковые сети, что облегчает адаптацию мембраны к растущему размеру бактерии.

    Работа выполнена при финансовой поддержке UKRI, Национальных институтов здравоохранения, Европейского исследовательского совета и Министерства бизнеса, энергетики и промышленной стратегии Великобритании.

    Ссылки

    Изображение

    • Микроскопическое изображение живой бактерии E. coli , демонстрирующее пятнистый характер ее защитной внешней мембраны. Плотно упакованная сеть белков прерывается гладкими, свободными от белков островками (обозначены пунктирными линиями на вставке).(Источник: Benn et al. UCL)

    Контакты для СМИ

    Bex Caygill

    Тел.: +44 (0)20 3108 3846

    Электронная почта: r.caygill [at] ucl.ac.uk


    cystoisospora_benchaid.pub

    %PDF-1.6 % 24 0 объект > эндообъект 54 0 объект > эндообъект 101 0 объект > эндообъект 21 0 объект >поток Acrobat Distiller 8.1.0 (Windows)PScript5.dll Версия 5.22009-06-08T10:55:52-04:002009-06-08T10:48:52-04:002009-06-08T10:55:52-04:00application/ pdf

  • цистоизоспора_бенхаид.паб
  • gqa4
  • uuid: b2f767ac-90d8-4c1a-9ca4-2e9a6ba06974uuid: 25b106df-c0be-4761-a752-f251b36c5fb104313NCCL-05094-15092 конечный поток эндообъект 20 0 объект > эндообъект 53 0 объект > эндообъект 18 0 объект > эндообъект 19 0 объект > эндообъект 56 0 объект > эндообъект 102 0 объект > эндообъект 55 0 объект > эндообъект 88 0 объект > эндообъект 92 0 объект > эндообъект 68 0 объект > эндообъект 72 0 объект > эндообъект 111 0 объект > эндообъект 78 0 объект > эндообъект 82 0 объект > эндообъект 124 0 объект > эндообъект 106 0 объект > эндообъект 61 0 объект > эндообъект 129 0 объект > эндообъект 96 0 объект > эндообъект 103 0 объект > эндообъект 63 0 объект > эндообъект 66 0 объект > эндообъект 109 0 объект > эндообъект 76 0 объект > эндообъект 115 0 объект > эндообъект 117 0 объект > эндообъект 86 0 объект > эндообъект 25 0 объект >/ColorSpace>/Font>/ProcSet[/PDF/Text/ImageC/ImageI]/ExtGState>>>/Type/Page>> эндообъект 105 0 объект >поток HW]sF|篘GJ\aWU*U\)W\[email protected]@ɼ_ =

    Кампания Keisha Lance Bottoms зафиксировала некоторые отрывочные сообщения

    Подрядчики аэропортов использовали подставные компании, чтобы обойти ограничения на пожертвования

    Джофф Дэвис/CL файл
    Согласно отчету The Intercept , лидер гонки мэров Кейша Лэнс Боттомс находится под микроскопом из-за регистрации сомнительных пожертвований на избирательную кампанию.

    Боттомс, член совета Атланты, которая недавно обогнала коллегу по совету Мэри Норвуд в опросах, не привыкать подсчитывать отрывочные пожертвования.Недавно она вернула более 25 000 долларов наличными, полученными от подрядчиков, замешанных в городском скандале со взяточничеством. Теперь кампания Боттомса обвиняется в получении денег от некоторых доноров, которые нашли способ обойти лимит взносов в 2600 долларов.

    «Ряд крупных подрядчиков, которые ведут дела с аэропортом Хартсфилд-Джексон в Атланте, самым загруженным аэропортом в мире и организацией, контролируемой городом, использовали подставные компании и другие средства, чтобы увеличить свои пожертвования в Lance-Bottoms до десятков тысяч», The Intercept отчетов.


    Активизм

    Проблемы

    Промокашка

    Обновления COVID

    Последние новости

    Текущий выпуск

     массив(90) {
      ["название"]=>
      string(63) "Кампания Keisha Lance Bottoms зафиксировала несколько отрывочных материалов"
      ["дата_модификации"]=>
      строка (25) "2022-02-01T13:52:01+00:00"
      ["дата_создания"]=>
      строка (25) "2018-01-31T00:12:16+00:00"
      ["участники"]=>
      массив (1) {
        [0]=>
        строка(9) "бен.причина"
      }
      ["дата"]=>
      строка (25) "2017-11-06T05:27:00+00:00"
      ["трекер_статус"]=>
      строка(1) "о"
      ["идентификатор_трекера"]=>
      строка(2) "11"
      ["view_permission"]=>
      строка (13) "view_trackers"
      ["родительский_объект_id"]=>
      строка(2) "11"
      ["тип_родительского_объекта"]=>
      строка(7) "трекер"
      ["поле_разрешения"]=>
      строка(2) "[]"
      ["tracker_field_contentTitle"]=>
      string(63) "Кампания Keisha Lance Bottoms зафиксировала несколько отрывочных материалов"
      ["tracker_field_contentCreator"]=>
      строка(5) "клинт"
      ["tracker_field_contentCreator_text"]=>
      string(12) "Клинт Бергст"
      ["tracker_field_contentCreator_unstemmed"]=>
      строка (12) "клинт бергст"
      ["tracker_field_contentByline"]=>
      string(11) "Шон Кинан"
      ["tracker_field_contentByline_exact"]=>
      string(11) "Шон Кинан"
      ["tracker_field_contentBylinePerson"]=>
      строка(8) "13088174"
      ["tracker_field_description"]=>
      string(70) "Подрядчики аэропортов использовали подставные компании, чтобы обойти ограничения на пожертвования"
      ["tracker_field_description_raw"]=>
      string(70) "Подрядчики аэропортов использовали подставные компании, чтобы обойти ограничения на пожертвования"
      ["tracker_field_contentDate"]=>
      строка (25) "2017-11-06T05:27:00+00:00"
      ["tracker_field_contentWikiPage"]=>
      string(73) "Content:_: Кампания Keisha Lance Bottoms зафиксировала несколько отрывочных материалов"
      ["tracker_field_contentWikiPage_text"]=>
      строка(849) "
    Согласно сообщению The Intercept, лидер избирательной кампании мэра Кейша Лэнс Боттомс находится под микроскопом из-за регистрации сомнительных пожертвований на избирательную кампанию.Боттомс, член совета Атланты, которая недавно обогнала коллегу по совету Мэри Норвуд в опросах, не привыкать к подсчету отрывочных пожертвований. Недавно она вернула более 25 000 долларов наличными, полученными от подрядчиков, замешанных в городском скандале со взяточничеством. Теперь кампания Боттомса обвиняется в получении денег от некоторых доноров, которые нашли способ обойти лимит взносов в 2600 долларов.
    
    «Ряд крупных подрядчиков, которые ведут дела с аэропортом Хартсфилд-Джексон в Атланте, самым загруженным аэропортом в мире и организацией, контролируемой городом, использовали подставные компании и другие средства, чтобы увеличить свои пожертвования в Lance-Bottoms до десятков тысяч», — сообщает The Intercept."
      ["tracker_field_contentWikiPage_raw"]=>
      string(1782) "{HTML()}Joeff Davis/CL файл{HTML}
    По данным сообщает «The Intercept».
    
    Боттомс, член совета Атланты, которая недавно [https://www.google.com/url?sa=t&rct=j&q=&esrc=s&source=newssearch&cd=1&cad=rja&uact=8&ved=0ahUKEwiGxOzLsarXAhVDJiYKHegKChMQqQIIJygAMAA&url=http://www.cbs46.com/story/36770303/keisha-lance-bottoms-leads-crowded-field-for-atlanta-mayor&usg=AOvVaw3MsCGdX-SL9iaDaBE8l8as|обогнал коллегу по совету Мэри Норвуд в опросах], не привыкать подсчитывать отрывочные пожертвования. [https://www.google.com/search?q=keisha bottoms возвращает средства кампании&rlz=1C1CHBF_enUS716US716&oq=keisha bottoms возвращает средства кампании&aqs=chrome..69i57.10834j0j4&sourceid=chrome&ie=UTF-8|Недавно она вернула более 25 000 долларов на кампанию наличные деньги], предоставленные подрядчиками, замешанными в городском скандале со взяточничеством.Теперь кампания Боттомса обвиняется в получении денег от некоторых доноров, которые нашли способ обойти лимит взносов в 2600 долларов.
    
    «Ряд крупных подрядчиков, которые ведут дела с аэропортом Хартсфилд-Джексон в Атланте, самым загруженным аэропортом в мире и организацией, контролируемой городом, использовали подставные компании и другие средства, чтобы увеличить свои пожертвования в Lance-Bottoms до десятков тысяч», — The Intercept '' сообщает.
      ["tracker_field_contentWikiPage_creation_date"]=>
      строка (25) "2018-02-12T23:05:42+00:00"
      ["tracker_field_contentWikiPage_modification_date"]=>
      строка (25) "2018-03-22T16:04:07+00:00"
      ["tracker_field_contentWikiPage_freshness_days"]=>
      интервал(1472)
      ["tracker_field_photos_names"]=>
      массив (0) {
      }
      ["tracker_field_photos_filenames"]=>
      массив (0) {
      }
      ["tracker_field_photos_filetypes"]=>
      массив (0) {
      }
      ["tracker_field_breadcrumb"]=>
      строка(1) "0"
      ["tracker_field_contentCategory"]=>
      массив (1) {
        [0]=>
        строка(3) "248"
      }
      ["tracker_field_contentCategory_text"]=>
      строка(3) "248"
      ["tracker_field_contentControlCategory"]=>
      массив (0) {
      }
      ["tracker_field_scene"]=>
      массив (0) {
      }
      ["tracker_field_contentNeighborhood"]=>
      массив (0) {
      }
      ["tracker_field_contentRelations_multi"]=>
      массив (1) {
        [0]=>
        строка(0) ""
      }
      ["tracker_field_contentRelatedContent_multi"]=>
      массив (1) {
        [0]=>
        строка(0) ""
      }
      ["tracker_field_contentRelatedWikiPages_multi"]=>
      массив (1) {
        [0]=>
        строка(0) ""
      }
      ["tracker_field_contentMiscCategories"]=>
      массив (0) {
      }
      ["tracker_field_contentBASEContentID"]=>
      строка(8) "20981658"
      ["tracker_field_contentLegacyURL1"]=>
      строка (75) "http://dev.creativeloafing.com/image/2017/11/Keisha.Joeff.5a0092fded240.png"
      ["tracker_field_section"]=>
      массив (1) {
        [0]=>
        строка(3) "730"
      }
      ["tracker_field_section_text"]=>
      строка(3) "730"
      ["язык"]=>
      строка(7) "неизвестно"
      ["вложения"]=>
      массив (0) {
      }
      ["количество_комментариев"]=>
      интервал (0)
      ["категории"]=>
      массив (3) {
        [0]=>
        интервал(248)
        [1]=>
        интервал(730)
        [2]=>
        интервал(518)
      }
      ["глубокие_категории"]=>
      массив (9) {
        [0]=>
        интервал(242)
        [1]=>
        интервал(248)
        [2]=>
        интервал(1182)
        [3]=>
        инт (1477)
        [4]=>
        интервал(612)
        [5]=>
        интервал(730)
        [6]=>
        инт (28)
        [7]=>
        интервал(988)
        [8]=>
        интервал(518)
      }
      ["categories_under_28"]=>
      массив (0) {
      }
      ["deep_categories_under_28"]=>
      массив (2) {
        [0]=>
        интервал(988)
        [1]=>
        интервал(518)
      }
      ["categories_under_1"]=>
      массив (0) {
      }
      ["deep_categories_under_1"]=>
      массив (0) {
      }
      ["categories_under_177"]=>
      массив (0) {
      }
      ["deep_categories_under_177"]=>
      массив (0) {
      }
      ["categories_under_209"]=>
      массив (0) {
      }
      ["deep_categories_under_209"]=>
      массив (0) {
      }
      ["categories_under_163"]=>
      массив (0) {
      }
      ["deep_categories_under_163"]=>
      массив (0) {
      }
      ["categories_under_171"]=>
      массив (0) {
      }
      ["deep_categories_under_171"]=>
      массив (0) {
      }
      ["categories_under_153"]=>
      массив (0) {
      }
      ["deep_categories_under_153"]=>
      массив (0) {
      }
      ["categories_under_242"]=>
      массив (1) {
        [0]=>
        интервал(248)
      }
      ["deep_categories_under_242"]=>
      массив (1) {
        [0]=>
        интервал(248)
      }
      ["categories_under_564"]=>
      массив (0) {
      }
      ["deep_categories_under_564"]=>
      массив (0) {
      }
      ["categories_under_1182"]=>
      массив (0) {
      }
      ["deep_categories_under_1182"]=>
      массив (3) {
        [0]=>
        инт (1477)
        [1]=>
        интервал(612)
        [2]=>
        интервал(730)
      }
      ["свободные теги"]=>
      массив (0) {
      }
      ["гео_расположение"]=>
      строка(1) "н"
      ["группы_пользователей"]=>
      массив (8) {
        [0]=>
        string(27) "Представитель организации"
        [1]=>
        string(20) "Представитель события"
        [2]=>
        string(22) "Представитель продукта"
        [3]=>
        string(17) "Корреспонденты CL"
        [4]=>
        string(18) "Руководители по работе с клиентами"
        [5]=>
        строка(6) "Администраторы"
        [6]=>
        string(7) "Художники"
        [7]=>
        string(12) "Вики-редакторы"
      }
      ["user_followers"]=>
      массив (2) {
        [0]=>
        строка (5) "Джонни"
        [1]=>
        строка (14) "thevinylwarhol"
      }
      ["лайк_список"]=>
      массив (0) {
      }
      ["разрешенные_группы"]=>
      массив (2) {
        [0]=>
        строка(6) "Администраторы"
        [1]=>
        строка(9) "Аноним"
      }
      ["разрешенные_пользователи"]=>
      массив (1) {
        [0]=>
        строка(5) "клинт"
      }
      ["отношения"]=>
      массив (0) {
      }
      ["relation_objects"]=>
      массив (0) {
      }
      ["типы_отношений"]=>
      массив (0) {
      }
      ["relation_count"]=>
      массив (0) {
      }
      ["title_initial"]=>
      строка(1) "К"
      ["title_firstword"]=>
      строка (6) "Кейша"
      ["доступен для поиска"]=>
      строка(1) "у"
      ["адрес"]=>
      строка (10) "item266636"
      ["тип_объекта"]=>
      строка (11) "трекеритем"
      ["object_id"]=>
      строка(6) "266636"
      ["содержимое"]=>
      string(1257) " Подрядчики аэропортов использовали подставные компании, чтобы обойти ограничения на пожертвования 00:00
    Согласно сообщению The Intercept, лидер избирательной кампании мэра Кейша Лэнс Боттомс находится под микроскопом из-за регистрации сомнительных пожертвований на избирательную кампанию.Боттомс, член совета Атланты, которая недавно обогнала коллегу по совету Мэри Норвуд в опросах, не привыкать к подсчету отрывочных пожертвований. Недавно она вернула более 25 000 долларов наличными, полученными от подрядчиков, замешанных в городском скандале со взяточничеством. Теперь кампания Боттомса обвиняется в получении денег от некоторых доноров, которые нашли способ обойти лимит взносов в 2600 долларов.
    
    «Ряд крупных подрядчиков, которые ведут дела с аэропортом Хартсфилд-Джексон в Атланте, самым загруженным аэропортом в мире и организацией, контролируемой городом, использовали подставные компании и другие средства, чтобы увеличить свои пожертвования в Lance-Bottoms до десятков тысяч», — сообщает The Intercept.20981658 http://dev.creativeloafing.com/image/2017/11/Keisha.Joeff.5a0092fded240.png Кампания Keisha Lance Bottoms зафиксировала несколько отрывочных материалов "
      ["счет"]=>
      поплавок (14.09)
      ["_индекс"]=>
      строка (35) "atlantawiki_tiki_main_624937e1577e6"
      ["без названия"]=>
      строка(10) "1"
    }
     

    קצת גס — Перевод на русский — примеры иврит

    Эти примеры могут содержать нецензурные слова, основанные на вашем поиске.

    Эти примеры могут содержать разговорные слова на основе вашего поиска.

    אתה מחפש קצת גס סביב הקצוות עצמך, טיילר.

    הנה המיקרוסקופ האטומי בפעולה ואתם יכולים לראות שהגימור קצת גס .

    Работает атомно-силовой микроскоп и видно, что посадка немного грубая .

    אז הדברים נראים קצת גס כאן.

    האם לא זה הכל נראה קצת גס ?

    זה קצת גס , לא זה יסתיים במהירות -.

    אני יודע שהייתי קצת גס עליך שם.

    זה קצת גס , אתה לא חושב?

    השטח קצת גס כאן.

    קצת גס בקצוות, אבל כשאתה מסתכל מקרוב…

    Немного шершавый по краям, но если присмотреться… абсолютно красивый.

    אני חושב שאתה מתנהג קצת גס .

    אל תאשים את המשטרה אם הייתי קצת גס .

    החיווט של בקטי היה קצת גס .

    הוא רק קצת גס עם זה?

    זה קצת גס לדבר עליו עובר תאונה מחרידה.

    זה קצת גס , כשזה מגיע מקוסם!

    זה היה קצת גס רוח מצידם, חשבתי.

    זה יכול להיות קצת גס רוח למעשה.

    Познакомьтесь с нашими врачами

    Вы когда-нибудь хотели взять интервью у врача Sketchy ? Теперь у вас есть шанс! В честь Национального дня врача мы обращаем внимание на наших бывших студентов.Узнайте об их пути к тому, чтобы стать врачом, их советах для нынешних студентов и о том, как Sketchy поддерживал их на этом пути.

    В: Расскажите о своем пути в медицине. Как вы выбрали свою специальность?

    Остин: С юных лет я всегда хотел сделать что-то оперативное. В детстве у меня была травма головы, поэтому я то и дело попадал в больницы. Медицина спасла мне жизнь. Сначала я думал об офтальмологии, но к концу своей хирургической ротации понял, что хочу как можно больше находиться в операционной.

    Миган: Я всегда хотела стать лечащим врачом. В детстве я смотрела на своего собственного педиатра, и мне нравилась идея знать кого-то в течение длительного периода времени и видеть, как он меняется. Что действительно побудило меня заняться семейной медициной, а не педиатрией или терапией, так это знание того, что вы получаете всего понемногу. Я думаю, что культура также является большой частью этого. Каждая специальность привлекает единомышленников, а семейная медицина — это очень теплая и непринужденная культура, которую я ценю.

    Арьян: Мне нравились почти все мои ротации, от хирургии до акушерства/гинекологии и педиатрии, но ничто не выделялось как мое призвание. Терапия позволяет вам держать ваши варианты открытыми. Именно такое разнообразие и гибкость привели меня к IM. Что касается желудочно-кишечного тракта, мне нравится эндоскопическая сторона. Тот факт, что вы можете получить ответ, выполнив процедуру. Это не всегда возможно в медицине.

    Жасмин : Я всегда знала, что хочу заниматься наукой.Я был ботаником с игрушечным микроскопом, который смотрел на жуков. Но в старших классах я сосредоточился на медицине, потому что у одного из моих племянников возникла неотложная медицинская помощь, и мне пришлось проводить много времени в больнице. Меня это заинтересовало, и это осталось со мной на долгие годы. Сначала я поступил в медицинскую школу, думая, что хочу заниматься хирургией. Но когда я делал свои ротации, это не подходило мне. Мне нравилось так много вещей в моей ротации, и я понял, что Emergency Medicine позволяет мне делать все это, так что это было идеально.

    Алессандра: Я выбрала Внутреннюю Медицину, потому что она широка и дает вам возможность исследовать различные области и выяснить, в чем вы хотите специализироваться. IM был для меня воротами в Heme/Onc. В клинике я столкнулся с этими пациентами гематологии/онкологии, у которых были очень редкие вещи, которые вы действительно не часто видите. Когда я наблюдал за этими пациентами, я связал то, что узнал с помощью Pathoma и Sketchy Pharm, и действительно заинтересовался их основными заболеваниями.

    В: Какими качествами должен обладать будущий врач?

    Арджан: Сострадание . Зная, что все, что вы делаете, делается для пациента. Все исследования и прочее в один прекрасный день будут применимы к реальному живому человеку. Найдите свою нишу . Где находится подходящая больница, какая ротация для вас, какие ресурсы для вас. Лидерство. Даже если выполнение руководящей роли не является чем-то естественным или естественным для вашей личности, оно все равно сослужит вам хорошую службу в будущем.

    Миган: Желание. Я действительно верю, что если ты будешь достаточно усердно работать, ты сможешь это сделать. Мне многие говорили, что, может быть, предмедицинская подготовка не для меня или что я не смогу ее пройти, но я просто была очень настойчивой. Я думаю, если это то, чем вы действительно хотите заниматься, и если вы идете на это по правильным причинам, вы можете это сделать.

    Жасмин: Настойчивость. Вы должны быть готовы пройти через это. Честность. Это важно и иногда недооценивается. Есть давление, чтобы быть совершенным и всегда правильным в медицинской школе и резидентуре. Честность показывает людям, в чем вам нужна помощь, и укрепляет доверие между вами, вашим лечащим врачом и пациентами. Адаптируемый. В каждой области медицины есть свои сюрпризы. Как студент-медик, который проходит через все, вы должны быть гибкими и быстрыми. Вы должны быть в состоянии заполнить пробелы всякий раз, когда вы можете.

    В: Как Sketchy поддержал ваше медицинское путешествие?

    Миган: Скетчи полностью изменили то, как я боролся с инфекционными заболеваниями, как я все еще думаю об антибиотиках, как я все еще могу удерживать в голове разные вещи.Это действительно создало основу для того, как я мог легко запоминать вещи. По сей день я вспоминаю изображения Sketchy, которые быстро напоминают мне о различных аспектах инфекций.

    Алессандра: Sketchy был со мной с самого начала. Мы с мужем смотрели его каждый вечер вместо телешоу, и это стало для нас источником развлечения и обучения. Дошло до того, что я полагался на Sketchy, чтобы сдать экзамены. Это такой замечательный ресурс, что независимо от того, где вы находитесь в области медицины, вы всегда можете вернуться к нему и очень быстро переучиться.Иметь такой ресурс просто невероятно. Для всех дизайнеров и всех, кто создал эту программу, это просто самое гениальное. Я люблю это!

    Жасмин: Он помог затвердеть многим микроорганизмам. Я визуальный человек, поэтому , когда я узнал о Sketchy, я подумал, что он создан для меня. Даже сейчас, во время ординатуры, иногда думаю, какие антибиотики подобрать кому-то и рисую картинки из Sketchy.

    Остин: Sketchy был необходим для изучения фармакологии и микробиологии. Я до сих пор ссылаюсь на свои ментальные образы в клинической практике.

    В: Какой совет вы можете дать нынешним студентам Sketchy?

    Аржан: Просто доверься процессу . В данный момент это кажется таким ошеломляющим — что существует бесконечное количество знаний, которые нужно выучить, изучить или запомнить, — но это очень выполнимо. Найдя нужных людей, правильное место и нужные ресурсы, этого можно легко достичь.В то время это было очень ошеломляюще, но, оглядываясь назад, вы понимаете, что все это часть этого большого путешествия.

    Остин: Открытость очень важна. Если вы думаете, что вас что-то интересует, обратитесь к наставнику или наставнику в этой области и постарайтесь погрузиться в это.

    Миган: Сосредоточьтесь на том, что работает для вас, и постарайтесь не сравнивать себя с тем, что делают другие. Это невероятное давление, чтобы думать, что «кто-то использует этот конкретный ресурс для обучения» или «он делает x количество карточек в день», и это может быть действительно пугающим.Это может создать токсичную среду. Вам просто нужно выяснить, каков ваш стиль обучения, и знать, что он может измениться по мере вашего прохождения медицинской школы, и это нормально. Будьте гибкими и терпеливыми к себе.  

    Жасмин : Положитесь на окружающих вас людей. Пусть люди знают, что происходит. Скажите им, потому что они готовы помочь больше, чем вы думаете.

    Алессандра: Будьте настойчивы. Всегда продолжайте учиться. Даже в ординатуре возвращение к основам, таким как Micro, Pharm и Pathology, сделает вас лучшим врачом, а , будучи лучшим врачом, означает, что ваши пациенты получают лучший уход.

    Мы надеемся, что эти истории успеха вдохновят наших нынешних студентов мечтать о большем и достигать своих целей! Оставайтесь с нами, чтобы узнать больше от наших Sketchy Doctors, в том числе о постоянном вебинаре, который нельзя пропустить! Присоединяйтесь к нам в Discord, чтобы быть в курсе всех предстоящих событий.

    Добавить комментарий

    Ваш адрес email не будет опубликован.